鍍層測(cè)厚儀,天瑞內(nèi)儀器

返回列表頁(yè)

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地

在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：肖君查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2024-07-31 08:12:37瀏覽次數(shù)：159次

聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自環(huán)保在線

產(chǎn)品分類 品牌分類

  鍍層/膜厚測(cè)厚儀

全部產(chǎn)品列表

暫無(wú)信息

江蘇天瑞儀器股份有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：968條

所在地區(qū)：江蘇蘇州市

聯(lián)系人：肖君（銷售）

詢價(jià) 給他留言

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

EDX4500系列設(shè)備的真空測(cè)量室能夠通過(guò)X射線熒光分析(RFA)檢測(cè)原子序數(shù)從Na（11）開(kāi)始的輕元素

詳細(xì)介紹

EDX4500系列設(shè)備的真空測(cè)量室能夠通過(guò) X 射線熒光分析 (RFA) 檢測(cè)原子序數(shù)從Na（11）開(kāi)始的輕元素。由于空氣會(huì)吸收輕元素的熒光X射線，因此在大氣環(huán)境中通常無(wú)法使用該方法。因此，該非常適合對(duì)要求嚴(yán)苛的鍍層厚度進(jìn)行測(cè)量和材料分析。

EDX4500特性：

檢出限低、重復(fù)精度高，以及測(cè)量適用性廣，因此特別適用于研究和開(kāi)發(fā)使用
配備真空測(cè)量室和高性能硅漂移探測(cè)器，能夠?qū)崿F(xiàn)測(cè)量，尤其是對(duì)輕元素的測(cè)試
通過(guò)可編程 X、Y 和 Z 軸進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試
準(zhǔn)直器和濾波器可切換，因此可適用于各種材料和測(cè)試條件

EDX4500應(yīng)用：

EDX4500涂層厚度測(cè)量

原子序數(shù)從Na（11）開(kāi)始的輕元素鍍層，可測(cè)量厚度低至納米級(jí)
鋁鍍層和硅鍍層

EDX4500材料分析

測(cè)定寶石的真?zhèn)闻c原產(chǎn)地
常規(guī)材料分析和取證
高分辨率痕量分析

專業(yè)生產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀，ROHS檢測(cè)儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測(cè)厚儀，，ROHS測(cè)量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測(cè)儀， ROHS檢測(cè)儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。