Agilent E4991A 射頻阻抗/材料分析儀
主要特性與技術(shù)指標(biāo) 基本精度
•基本精度 +/-0.8% 
掃描參數(shù)
•頻率：1 MHz 至 3 GHz
•振蕩器電平：高達(dá) 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms 
•DC 偏置電平（選件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA 
更多特性
•Windows 風(fēng)格的用戶界面 
•內(nèi)置 VBA 編程功能
•通過 LAN 接口進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸
多功能測量選件
•介電/磁性材料測量（選件 E4991A-002）
•可靠的晶圓測量（選件 E4991A-010）
•溫度特性測量（選件 E4991A-007）
描述 
E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強(qiáng)大的內(nèi)置分析功能。它將為元器件和電路設(shè)計人員測量 3 GHz 以內(nèi)的元器件提供創(chuàng)新功能，幫助他們進(jìn)行研發(fā)工作。與反射測量技術(shù)不同，E4991A 使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術(shù)，可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測量結(jié)果?；咀杩咕仁?+/-0.8%。高 Q 精度有利于進(jìn)行低功耗元器件分析。內(nèi)置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。

材料評估

E4991A 提供完整的介電/磁性材料測量解決方案，涵蓋 1 MHz 至 1 GHz的寬頻率范圍。 

晶圓測量

借助E4991A-010 探針臺連接套件，您可輕松地地將 Agilent E4991A 連接到射頻探頭系統(tǒng)（由 Cascade Microtech 提供）上進(jìn)行晶圓測量。 

溫度特性評估

溫度特性測試套件 E4991A-007 是一款為元器件和材料進(jìn)行溫度特性測量的新型解決方案。該選件可在 - 55°C 至 + 150°C 廣泛的溫度范圍內(nèi)提供高精度的溫度特性分析功能，以及強(qiáng)大的溫度漂移補(bǔ)償功能。
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