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韓國(guó)MicroPioneer XRF-2000 X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀/膜厚儀

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產(chǎn)品型號(hào)XRF-2000

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更新時(shí)間：2016-10-26 04:40:20瀏覽次數(shù)：215次

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深圳市錦賢科技有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品介紹
X 螢光射線(xiàn)膜厚分析儀是利用 XRF 原理來(lái)分析測(cè)量金屬厚度及物質(zhì)成分，可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測(cè)。

詳細(xì)介紹

韓國(guó)MicroPioneer XRF-2000 X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀/膜厚儀

XRF-2000 系列分為以下三種：
1. H-Type :密閉式樣品室，方便測(cè)量的樣品較大，高度約100mm以下。
2. L-Type : 密閉式樣品室，方便測(cè)量樣品較小，高度約30mm以下。
3. PCB-Type : 開(kāi)放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測(cè) 。
應(yīng)用 :
測(cè)量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測(cè)元素的范圍： Ti（22）~U（92 ）。
行業(yè) :
五金類(lèi)、螺絲類(lèi)、 PCB 類(lèi)、連接器端子類(lèi)行業(yè)、電鍍類(lèi)等。
特色 :
  非破壞，非接觸式檢測(cè)分析，快速精準(zhǔn)。
  可測(cè)量高達(dá)六層的鍍層（五層厚度 + 底材）并可同時(shí)分析多種元素。
  相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測(cè)量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報(bào)告。
  全系列*設(shè)計(jì)樣品與光徑自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)。
  標(biāo)準(zhǔn)配備: 溶液分析軟體，可以分析電鍍液成份與含量。
準(zhǔn)直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來(lái)選擇準(zhǔn)值器的口徑。
  移動(dòng)方式：全系列全自動(dòng)載臺(tái)電動(dòng)控制，減少人為視差。
  *2D與3D或任意位置表面量測(cè)分析。
  雷射對(duì)焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體搭配內(nèi)建多種專(zhuān)業(yè)報(bào)告格式，亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計(jì)等作成完整報(bào)告。

光學(xué)2 0X 影像放大功能，更能精確對(duì)位。

單位選擇： mils 、 uin 、 mm 、 um 。
  優(yōu)於美製儀器的設(shè)計(jì)與零件可靠度以及擁有價(jià)格與零件的*優(yōu)勢(shì)。
  儀器正常使用保固期一年，強(qiáng)大的專(zhuān)業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù)。
  測(cè)試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。

韓國(guó)Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測(cè)厚兩用的XRF-2000R型號(hào)

Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測(cè)厚儀及ROHS元素分析儀

是在XRF-2000系列測(cè)厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測(cè)的功能，

其物點(diǎn)為：高分辨率，固態(tài)探測(cè)器; 可分析超薄樣品

分析有害物質(zhì)，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用;

可測(cè)量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析；

電鍍?nèi)芤悍治觯?/p>

定性分析超過(guò)30種元素,能夠測(cè)量液體，固體，粉末，薄膜和不規(guī)則形狀；

貴金屬元素含量和分析（金，銀，鉑，和珠寶）；

自動(dòng)過(guò)濾器，多準(zhǔn)直儀（五個(gè)準(zhǔn)直器，從0.1mm-3.0mm）和全自動(dòng)XYZ移動(dòng)樣品臺(tái)；

性?xún)r(jià)比*的元素分析及鍍層測(cè)厚雙功能分析儀器

儀器尺寸：W610mm D670mm H490mm, 重量：75Kg （net）