簡體中文界面
Windows 5.0操作系統(tǒng)
開機后不需校準(zhǔn)就可直接測量
采用布魯克技術(shù)的XFlash?SDD檢測器
分析元素zui小從Mg開始,達40多種。
分析范圍:ppm級至50%以上(與礦樣種類有關(guān))
實時分析數(shù)據(jù)和圖譜顯示
XRF軟件具有定性、定量分析功能,控制光管的電壓和電流,使測量范圍更廣
測量*無損,不受樣品形狀限制
儀器自動校準(zhǔn),自動存儲測量數(shù)據(jù),無需人工干預(yù)
主機一體化設(shè)計,高強度密封,防水、防塵,抗沖擊
可選擇一鍵式定時測量
內(nèi)置Bruker專業(yè)操作軟件,計算和顯示速度快
儀器適應(yīng)高溫,低溫,潮濕,雨天、沙塵等惡劣環(huán)境
在開機狀態(tài)下長時間不測量時,儀器會自動進入待機狀態(tài),以節(jié)省電源和保護儀器
X射線管耐用性強,采用Peltier半導(dǎo)體恒溫制冷技術(shù)更增加了使用壽命
選配GPS定位系統(tǒng),可精確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖
*FP模式,適于各種礦石樣品,大大縮短現(xiàn)場工作時間。自動補償元素間干擾。
免費軟件升級
采礦和勘探-現(xiàn)地質(zhì)化學(xué)分析:
勘探:
手持式礦石分析儀S1 TITAN輕質(zhì)化、易攜帶的設(shè)計,*地方便了在勘探現(xiàn)場直接探測并定位有潛在礦產(chǎn)的區(qū)域,測量鉆孔巖心,判定礦床的深度和分布情況
礦石分析:
一旦發(fā)現(xiàn)礦產(chǎn)地點,手持式礦石分析儀S1 TITAN可快速分析礦床
礦石質(zhì)量控制:
礦產(chǎn)定位且開始開采后,S1 TITAN可對每輛貨車內(nèi)的礦石進行檢測,提供礦石的詳細品級信息,為即將流入加工廠的礦石進行前期篩選,提高原料礦石的質(zhì)量
加工和濃度分析:
礦石加工過程中,S1 TITAN可測定樣品的濃度
復(fù)原和整治:
當(dāng)采礦作業(yè)進入尾聲,S1 TITAN可用于未了分析,并協(xié)助完成土地復(fù)原
KE主要分析礦體、礦塊、礦粉、礦渣、精礦、粗礦、尾礦;
還可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥漿;粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層等。
領(lǐng)域:
勘查、巖芯檢測、開采過程控制、品位控制、環(huán)境分析
地質(zhì)化學(xué)痕量測定:
痕量元素
礦石探途元素
土壤或沉積層中的污染物
修復(fù)檢查
催化轉(zhuǎn)化器
地質(zhì)化學(xué)常量測定:
主要和微量元素
含金屬礦石
工業(yè)礦物
精礦
鋁土礦
測量范圍(Mg-U)
Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pd,Ag,Cd,Sn,Sb,Te,Cs,Ba,Hf,Ta,W,Re,Pt,Au,Hg,Pb,Bi,Th,U等。
校準(zhǔn):
元素范圍:zui多可達45種元素,包括鎂、鋁、硅、磷和硫
通過標(biāo)準(zhǔn)樣品,進行多重特定基質(zhì)校準(zhǔn)
配備Bruker的連續(xù)自動增益校準(zhǔn)(CAGC),需現(xiàn)場增益檢查
樣品制備:
可直接測量巖石表面,但是這類樣品質(zhì)地不均勻,需要大量的數(shù)據(jù)采集才可實現(xiàn)有效的量化分析。反之,采用質(zhì)地均勻的樣品(如磨細的粉末)能夠獲得更精確的分析結(jié)果。
*的解決方案是,把材料研磨成足夠細的粉末,壓制或輕巧成可復(fù)制、致密的樣品?,F(xiàn)場可使用多種輔助研磨工具,直接從巖石表面手機粉末,或者把樣品“捶打”成所要求的粉末,再將粉末壓制成顆粒狀,即可使用S1TITAN進行分析。
環(huán)境條件:防護等級IP54:S1 TITAN在設(shè)計上課承受所有環(huán)境的縣長操作,包括潮濕及多塵的環(huán)境條件
密封式設(shè)計可防水防塵
采用橡膠模造,經(jīng)久耐用
可防止污染物及風(fēng)沙侵入
樣本立架可用于測量小型及復(fù)雜樣本
操作溫度:-10℃至+50℃
樣本溫度(間歇性使用):150℃用于Ultralene窗口,500℃用于Kapton窗口
馬上:,info@boyuesh.com