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XT V 160:電子檢測用納米技術(shù)(NanoTech) X射線系統(tǒng)
XT V 160也被稱為Revolution,是利用X-Tek 20年納米級焦點X射線技術(shù)方面的經(jīng)驗研制開發(fā)的產(chǎn)品。
該系統(tǒng)提供了一個結(jié)構(gòu)緊湊的系統(tǒng)內(nèi)可能獲得的zui高分辨率和放大倍數(shù),非常適用于生產(chǎn)線上和故障分析實驗室內(nèi)電子零部件的檢測。
XT V 160是一款通用工具,使操作人員很方便地利用該系統(tǒng)的手動和編程檢測功能。zui為重要的是,它可用于計算機斷層掃描CT檢測,根據(jù)其完整的三維圖像,重構(gòu)該試樣。
設計用于* BGA和μBGA 檢測,多層板檢測和PCB焊接點檢測,XT V 160 X射線檢測系統(tǒng)是一個使用簡便,分辨率高和成本低廉的檢測解決方案,是檢測實驗室*的骨干設備。
XT V 160 檢測優(yōu)點
- 操作使用直觀
- 能在很短的時間內(nèi)獲得高質(zhì)量圖像
- 市場的放大倍數(shù),適用于*板檢測
- 75°傾斜視角(板平面的方位角為15°)
- 購置成本低
- 安全裝置,可作為設計標準
- 占用空間小