子元器件老化測(cè)試,蒸氣老化試驗(yàn)箱
湖北高天蒸汽老化試驗(yàn)箱,蒸汽老化試驗(yàn)箱適用于子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片阻容、零組件產(chǎn)業(yè)、子零組件金屬等材料進(jìn)行老化加速壽命試驗(yàn)。
蒸汽老化試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)型號(hào):
產(chǎn)品型號(hào):GT-ZQ-34
內(nèi)部尺寸:50X40X17 CM (W*H*D)
外部尺寸:60X50X42 CM (W*H*D)
溫度范圍:Upto97℃
控制器:PID微腦控制
加熱方式:PID+SSR
升溫時(shí)間:約45分鐘
計(jì)時(shí)器:9999分
壓:220V
熱(KW):2