NiComp380ZLS照片
粒度及Zeta電位檢測(cè)分析儀NiComp380ZLS，美國(guó)PSS公司粒度儀。上海拜力生物公司一級(jí)代理商。美國(guó)PSS公司自1978年創(chuàng)建以來，一直在為顆粒檢測(cè)分析領(lǐng)域提供技術(shù)的儀器設(shè)備。
PSS公司簡(jiǎn)介：美國(guó)PSS公司自1978年創(chuàng)建以來，一直在為顆粒檢測(cè)分析領(lǐng)域提供技術(shù)的儀器設(shè)備。我們始終把用戶放在*，一如既往地致力于為用戶解決顆粒檢測(cè)分析和Zeta電位測(cè)定的各種疑難問題。無論是濕法還是干法檢測(cè)分析，也無論是實(shí)驗(yàn)室研究還是生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)在線檢測(cè)/監(jiān)測(cè)分析，我們都能提供*的模塊化儀器設(shè)備滿足用戶的不同需求。
粒度及Zeta電位檢測(cè)分析儀NiComp380ZLS產(chǎn)品簡(jiǎn)介：NiComp 380 ZLS 采用*的設(shè)計(jì)理念優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，充分有效地融合了動(dòng)態(tài)光散射（DLS）和電泳光散射（ELS）技術(shù)，即可以多角度（步長(zhǎng)0.9°）檢測(cè)分析液態(tài)納米顆粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度測(cè)量Zeta電位。
粒度檢測(cè)分析復(fù)合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術(shù)的 NiComp 無約束自由擬合多峰算法，對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢(shì)，其優(yōu)異的解析度及重現(xiàn)性是其他同類產(chǎn)品*的。
NiComp 380 ZLS通過檢測(cè)分析膠體顆粒的電泳遷移率測(cè)量Zeta電位。Zeta電位是對(duì)顆粒之間相互排斥或吸引力的強(qiáng)度的度量，是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)，Zeta電位（正或負(fù)）越高，體系越穩(wěn)定。
整機(jī)采用模塊化設(shè)計(jì)，功能擴(kuò)展靈活方便。*的樣品池設(shè)計(jì)使得伺樣方便快捷、用樣量少，無須進(jìn)行繁瑣的樣品池校準(zhǔn)。
粒度及Zeta電位檢測(cè)分析儀NiComp380ZLS特別介紹：380ZLS configuration
| 原產(chǎn)地供應(yīng)商 | 美國(guó)/ PARTICLE SIZING SYSTEMS,INC | |
| 型號(hào) | 數(shù)量 | 規(guī)格描述 |
| 380ZLS | 1SET | NICOMP 380 Submicron Particle Sizer Nicomp 380 微粒粒徑檢測(cè)儀 |
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| Size range：0.5nm to 6 microns. 粒徑范圍：0.5納米 – 6微米。 |
| Optics unit：15-mW laser （see alternate laser diode option below）. 激光光源：15毫瓦大功率固體紅色發(fā)光二極管 （功率及波長(zhǎng)可選）。 | ||
| Detector： High-gain PMT detector. 探測(cè)器：高靈度PMT探測(cè)器。 | ||
| Size measurement angle：90° 檢測(cè)角度：90° | ||
| Fast, 32-bit digital autocorrelator, new DSP design （4 x T.I. C31）. 快速的32位數(shù)字自動(dòng)相關(guān)器，數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)（4 x T.I. C31） 。 | ||
| Internal analysis computer: fast DSP design （T.I. C31）. 內(nèi)置分析計(jì)算器： 高速數(shù)字信息處理系統(tǒng)（T.I. C31） 。 | ||
| Analysis method ：Classical GAUSSIAN and NICOMP Proprietary Multimodal Analysis. 分析方法：經(jīng)典的高斯分布和多峰模式的NICOMP分布。 | ||
| Time-history display/printout, three weighting options. 可顯示/打印粒徑－時(shí)間分布圖，并提供Intensity、Volume和Number三種分布圖。 | ||
| 1SET | Zeta Potential Analyzer Subsystem Zeta 電位檢測(cè)器 | |
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| Zeta Potential measurement range: 10nm to15 microns . Zeta電位檢測(cè)范圍：10納米 – 15微米。 | |
| Heterodyne electrophoretic dynamic light scattering. 外差電泳動(dòng)態(tài)光散射。 | ||
| 1024-channel, 32-bit digital autocorrelator （DSP-based, 4 x T.I. C31）. 1024條通道，32位數(shù)字自相關(guān)器（基于數(shù)字信號(hào)處理，4 x T.I. C31）。 | ||
| Doppler-shifted power spectrum obtained by FFT analysis. FFT分析獲得的多普勒轉(zhuǎn)換能譜。 | ||
| Low-angle measurement （19deg.） –minimizes broadening due to diffusion. 低角度測(cè)量（19 deg.）擴(kuò)散減小到zui小值。 | ||
| Electric field range：0.1 – 200 V / cm. 場(chǎng)強(qiáng)范圍：0.1 – 200 伏 / 厘米。 | ||
| Temperature range: 10 to 75 deg C （reg. to+0.3 deg C）. 溫度范圍：5 to 75 deg C （reg. to+0.3 deg C） 。 | ||
| Solid palladium electrode assembly （disposable cuvets）, no alignment/calibration required. 鈀電極裝置（可重復(fù)使用的石英樣品池），無需校正。 | ||
| 1SET | Phase Analyze Light Scattering System PALS技術(shù)裝置 | |
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| Both stably tested in liquid and organic solvent. 在水劑和有機(jī)相中進(jìn)行穩(wěn)定的電位檢測(cè)。 | |
主要特點(diǎn)：
△*的樣品池設(shè)計(jì)，無需進(jìn)行繁瑣的樣品池校正
△一次性樣品池，制樣方便快捷，避免樣品交叉污染
△快速自動(dòng)分析，少于1分鐘
△時(shí)間歷史曲線，可獲得*測(cè)量時(shí)間
△流通樣品池，可自動(dòng)稀釋或自動(dòng)滴定
△高精度步進(jìn)電機(jī)與創(chuàng)新的光纖技術(shù)相結(jié)合，無需任何人工校準(zhǔn)和定位
△自動(dòng)基線檢測(cè)，全程掃描跟蹤
△基于光纖技術(shù)的多角度粒度檢測(cè)分析，檢測(cè)角范圍10 ~ 175度（步長(zhǎng)0.9度）
