概述：
THK-L高低溫低氣壓測(cè)試箱是根據(jù)用戶要求并參照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)、制造。主要用于航空、航天、電子、國(guó)防、科研和其它工業(yè)部門確定電工電子產(chǎn)品（包括元器件、材料、新能源和儀器儀表），用于模擬產(chǎn)生溫度、濕度與低氣壓的綜合環(huán)境，也可以模擬產(chǎn)生單獨(dú)的高溫、低溫、濕度及低氣壓環(huán)境。對(duì)試品施加溫濕度和耐高低壓綜合環(huán)境，以便對(duì)試品的性能和品質(zhì)作出進(jìn)一步評(píng)價(jià)。
THK-L系列步入式真空試驗(yàn)倉(cāng)具有以下優(yōu)點(diǎn)：
A、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單合理，制造工藝規(guī)范，后期運(yùn)行故障低；
B、核心部件全部采用進(jìn)口品牌，性能穩(wěn)定可靠；
C、操作簡(jiǎn)單功能強(qiáng)大，人性化交流界面；
D、高標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊(duì)，售后無憂。
標(biāo)準(zhǔn)型-技術(shù)方案由以下部分組成：
*部分：技術(shù)參數(shù)-滿足性能指標(biāo)部分
第二部分：結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)-構(gòu)造結(jié)構(gòu)材質(zhì)部分
第三部分：測(cè)控系統(tǒng)-測(cè)控方式控制部分
第四部分：安全保護(hù)-安全保護(hù)控制部分
第五部分：售后服務(wù)-售后服務(wù)承諾部分
第六部分：配置清單-主要配置清單部分
*部分：技術(shù)參數(shù)-滿足性能指標(biāo)部分
1. 設(shè)備型號(hào)：THK-L（高低溫低氣壓測(cè)試箱）；
2. 工作室尺寸：600X700 X800 mm （深X寬X高）；
3. 溫度范圍：-40～100℃；
4. 壓力范圍：常壓～600 pa；
5. 溫度波動(dòng)：± 0.5 ℃；
6. 溫度偏差：± 2.0 ℃；
7. 升溫時(shí)間：30℃～180℃≤60 min；
8. 降溫時(shí)間：30℃～-40℃≤60 min；
9. 降壓時(shí)間：常壓～600pa≤80 min；
10. 控制方式：編程/定值運(yùn)行；
11. 電源功率：AC 380V /50Hz ±10%，25.0Kw;
12. 安裝環(huán)境：設(shè)備周圍無強(qiáng)烈振動(dòng)、無強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾、無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)、無易燃易爆物品、無陽(yáng)光直接照射或其它熱源直接輻射，設(shè)備應(yīng)水平放置于通風(fēng)良好的試驗(yàn)室內(nèi)，周圍應(yīng)留有充足的空間供操作及維護(hù)之用;
13. 考核環(huán)境：在標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下滿足室溫≤25℃，相對(duì)濕度≤85%R.H，工作室空載，恒定兩小時(shí)。
