K-Alpha X射線光電子能譜儀

K-Alpha，一體化結(jié)構(gòu)的X射線光電子能譜儀（XPS）。性能*、高性價比、操作簡便、結(jié)構(gòu)緊湊,是現(xiàn)代實驗室和企業(yè)的*儀器。采用全新的生產(chǎn)技術(shù),在K-Alpha的設(shè)計中集合了所有這些優(yōu)勢.
 

K-Alpha X射線光電子能譜儀
 K-Alpha是一款*集成的單色化小光斑X射線光電子能譜（XPS）系統(tǒng)。
性能，擁有成本降低，易用性提高和尺寸緊湊使得K-Alpha成為許多現(xiàn)有以及新研發(fā)的表面分析應(yīng)用領(lǐng)域理想解決方案。K-Alpha是專為多用戶環(huán)境推出的*款XPS工具，從樣品進入到報告生成*實現(xiàn)自動化工作流程。
 

專為生產(chǎn)率而設(shè)計，從研究分析到日常測試
K-Alpha是一款*集成的X射線光電子能譜。獲獎的版K-Alpha平臺特征光譜性能顯著提高，提供更高計數(shù)率和更快分析時間，改善化學(xué)探測能力。分析選配件包括一個角分辨XPS傾斜模塊和一個循環(huán)惰性氣體手套箱，用于轉(zhuǎn)移空氣敏感樣品。K-Alpha帶來一系列激動人心的新軟件特征，旨在進一步增強用戶體驗。K-Alpha是專為多用戶環(huán)境而設(shè)計，*的單色X射線光電子能譜性能與智能自動化及直觀控制相結(jié)合，同時滿足有經(jīng)驗XPS分析人員及新人對此項技術(shù)的需求。
 
強大的性能

• 可選區(qū)域光譜
• 深度剖析刻蝕
• 微聚集單色器
• 快照采集
• 高分辯率化學(xué)態(tài)光譜
• 絕緣樣品分析
• 定量化學(xué)成像 

的易用性
Avantage，完整XPS軟件包具備：

• 控制——Avantage軟件控制所有硬件
• 界面——點擊樣品實驗導(dǎo)航
• 定義——自動化樣品傳送
• 采集——譜圖、成像、剖析和線掃描
• 詮釋——元素和化學(xué)態(tài)識別
• 過程——定量、峰擬合和實時剖析顯示
• 光譜——成像處理，PCA，相分析，TFA、 NLLSF、PSF刪除，光學(xué)/XPS像疊加
• 報告——自動化報告生成，簡易輸出至其它軟件包 
   

Avantage索引數(shù)據(jù)檔案管理

• 審計跟蹤記錄
• 系統(tǒng)性能記錄
• 校準(zhǔn)要求——全譜儀源除氣和設(shè)置
• 全遙控操作

 
主要特征
分析器——180°雙聚集半球分析器-128通道檢測器
X射線源——鋁Ka微聚集單色器-可獲取的光斑大?。?微米步長30至400微米）
離子槍——能量范圍100至4000 eV
電荷中和——又束流-超低能量電子束
樣品安裝——四軸樣品臺-60 x60毫米樣品區(qū)域-zui大樣品厚度20毫米
真空系統(tǒng)——2個220 l/s渦輪分子泵用于進樣室和分析室–自動開機，3燈絲TSP
數(shù)據(jù)系統(tǒng)——Avantage數(shù)據(jù)系統(tǒng)–過程許可–計算機
選配件——傾斜角分辨XPS模塊–惰性氣體手套箱用于空氣敏感樣品安裝