INSIGHT 鍍層分析儀使用微聚焦X射線管將X射線源的大部分射線收集并匯聚成微束斑，照射在樣品位置，從而獲得良好的空間分辨率及很強(qiáng)的熒光信號(hào)，通過能譜探頭及后續(xù)的數(shù)據(jù)處理器等采集、處理并評(píng)價(jià)樣品被輻照后產(chǎn)生的熒光信號(hào)，得出樣品的成分信息。它可實(shí)現(xiàn)更復(fù)雜應(yīng)用的快速測(cè)量和精準(zhǔn)分析，是對(duì)不均勻或形狀不規(guī)則的未知樣品以及微觀物體進(jìn)行元素分析的理想方法。
INSIGHT 鍍層分析儀是一款上照式鍍層分析儀，具有外觀緊湊、節(jié)約空間、易于操作、分析快速、檢測(cè)精準(zhǔn)等特點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于常規(guī)和復(fù)雜鍍層結(jié)構(gòu)的樣品進(jìn)行元素分析和厚度檢測(cè)，尤其是對(duì)不均勻、不規(guī)則，甚至微小件等形態(tài)的樣品，確保客戶獲得可靠、可重復(fù)結(jié)果以滿足數(shù)百種應(yīng)用，包括：珠寶首飾、小零件、連接器鍍層、普通電路板等。
使用優(yōu)勢(shì)
多準(zhǔn)直器
多準(zhǔn)直器可選或多種準(zhǔn)直器組合由軟件自動(dòng)切換，可靈活應(yīng)對(duì)不同尺寸的零件。
一鍵式測(cè)量
配備直觀而智能的分析軟件，操作簡(jiǎn)單，任何人無需培訓(xùn)都可以測(cè)試樣品，僅僅需要點(diǎn)擊“開始測(cè)試”，數(shù)十秒即可獲得檢測(cè)結(jié)果啦。
自動(dòng)對(duì)焦
高低大小樣品可快速清晰對(duì)焦，視頻圖像可放大、含十字線、自動(dòng)聚焦。
超大測(cè)量室
儀器殼體的開槽設(shè)計(jì)（C型槽）使得測(cè)量空間寬大，樣品放置便捷，可以測(cè)量如印刷線路板類大而平整的物品，也可以放置形狀復(fù)雜的大樣品。
無損檢測(cè)
X射線熒光是無損分析過程，不留任何痕跡，即使是對(duì)敏感性材料，其測(cè)量也是非常安全的。
高性能進(jìn)口探測(cè)器
選用適合于多元素鍍層的高靈敏度的半導(dǎo)體探測(cè)器，比起傳統(tǒng)的封氣正比計(jì)數(shù)器，半導(dǎo)體探測(cè)器具有更佳分辨率、更低的背景噪聲（最高 S/N 比）長(zhǎng)期穩(wěn)定性以及更長(zhǎng)的使用壽命。
可編程自動(dòng)位移樣品臺(tái)
應(yīng)用場(chǎng)景
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通用小零件和小結(jié)構(gòu) |
燃料電池 |
