ScopeX PILOT臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀采用下照式設(shè)計(jì)，搭載的Muti-FP算法軟件和微光聚集技術(shù)，以及高敏變焦測(cè)距裝置，對(duì)不均勻、不規(guī)則，甚至微小件等形態(tài)的樣品，都能夠快速、精準(zhǔn)、無(wú)損檢測(cè)，可輕松應(yīng)對(duì)鍍層領(lǐng)域的表面處理的過(guò)程控制、產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)中的檢測(cè)和篩檢難題，被廣泛應(yīng)用于珠寶首飾、電鍍行業(yè)、汽車行業(yè)、五金衛(wèi)浴、航空航天、電子半導(dǎo)體等多種領(lǐng)域。
使用優(yōu)勢(shì)
可選配微焦X射線裝置
測(cè)試各類極微小的樣品，即使檢測(cè)面積微小的樣品也可輕松、精準(zhǔn)檢測(cè)。
多準(zhǔn)直器/濾光片
多濾光片和多準(zhǔn)直器可選或軟件自動(dòng)切換組合，使得儀器的多功能性得以顯著提升，以靈活應(yīng)對(duì)不同尺寸的零件。
下照式設(shè)計(jì)
從下往上測(cè)量，無(wú)需額外對(duì)焦，可輕松實(shí)現(xiàn)對(duì)鍍層樣品的高效測(cè)量。
無(wú)損檢測(cè)
X射線熒光是無(wú)損分析過(guò)程，不留任何痕跡，即使是對(duì)敏感性材料，其測(cè)量也是非常安全的。
變焦裝置
可對(duì)各種異形凹槽樣品進(jìn)行檢測(cè)，凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)0~30 mm。
高精度手調(diào)X-Y平臺(tái)
搭載高精度手調(diào)X-Y平臺(tái)，最高精度可達(dá)25μm，使微區(qū)測(cè)量更便捷。
應(yīng)用場(chǎng)景
緊固件 | 五金小零件 | 珠寶首飾 |
| 汽車零部件 |
