即放即測：無需人工對焦造成誤差，測量結果更可靠；
測試速度快：3秒自動對焦，10秒鐘完成50nm級極薄鍍層的測量；
無標樣測量：與以往的技術相比，薄膜FP軟件得到進一步擴充，即使沒有標準品也能精確測量；
多鍍層測量：最多能夠進行5層的多鍍層樣品測量；
廣域圖像觀察：能將樣品圖像放大5到7倍，并對測量部位精確定位；
低成本：較以往機型價格降低了20%。
FT110A通過自動定位功能，僅需把樣品放置到樣品臺上，就可在數(shù)秒內對樣品進行自動對焦。由此，無需進行以往的手動逐次對焦的操作，大大提高了樣品測量的操作性。
近年來，隨著檢測零件的微小化，對微區(qū)的高精度測量的需求日益增多。SFT-110實現(xiàn)微區(qū)下的高靈敏度，即使在微小準直器(0.1、0.2mm)下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。
同時，F(xiàn)T110A還配備有新開發(fā)的薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準物質也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量，可對應更廣泛的應用需求。
可從250×200mm的樣品整體圖像測量位置，另有機倉開放式機種，可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量
低價位也是FT110A的特點，與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。查看其它膜厚儀：/products/detail/6
膜厚儀作為可靠的品管工具，可針對半導體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進行測量管理，可保證產品的功能及質量，降低成本。
FT110A可降低成本如下：
*節(jié)省材料費
資源緊缺已是大勢所趨，企業(yè)的材料費也是節(jié)節(jié)攀高；尤其是表面處理工作中所用到的貴金屬更是一漲再漲，比如眾如周知的黃金Au已從十幾年前的百余元每克上漲到三百多元，以印刷電路板廠每年產量幾十萬套為例，根據(jù)業(yè)界經(jīng)驗如果能更好控制鍍層厚度，企業(yè)每年可節(jié)約上千萬的費用。
*減少工期(作業(yè)人工)
通過X射線儀來評價，管理產品可以輕松知曉產品能發(fā)揮功能時的最小鍍層厚度，從而避免重復電鍍造成的電費和人工費的流失。
*減少修理，修補等產生的制作費用
通過X射線儀可避免鍍層不均或太薄造成的質量問題，以及后續(xù)的返工造成的費用。
科邁斯科技，提供秀的產品，助您應對各種環(huán)境管制，提升產品質量！
測試速度快：3秒自動對焦，10秒鐘完成50nm級極薄鍍層的測量；
無標樣測量：與以往的技術相比，薄膜FP軟件得到進一步擴充，即使沒有標準品也能精確測量；
多鍍層測量：最多能夠進行5層的多鍍層樣品測量；
廣域圖像觀察：能將樣品圖像放大5到7倍，并對測量部位精確定位；
低成本：較以往機型價格降低了20%。
FT110A通過自動定位功能，僅需把樣品放置到樣品臺上，就可在數(shù)秒內對樣品進行自動對焦。由此，無需進行以往的手動逐次對焦的操作，大大提高了樣品測量的操作性。
近年來，隨著檢測零件的微小化，對微區(qū)的高精度測量的需求日益增多。SFT-110實現(xiàn)微區(qū)下的高靈敏度，即使在微小準直器(0.1、0.2mm)下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。
同時，F(xiàn)T110A還配備有新開發(fā)的薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準物質也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量，可對應更廣泛的應用需求。
可從250×200mm的樣品整體圖像測量位置，另有機倉開放式機種，可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量
低價位也是FT110A的特點，與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。查看其它膜厚儀：/products/detail/6
膜厚儀作為可靠的品管工具，可針對半導體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進行測量管理，可保證產品的功能及質量，降低成本。
FT110A可降低成本如下：
*節(jié)省材料費
資源緊缺已是大勢所趨，企業(yè)的材料費也是節(jié)節(jié)攀高；尤其是表面處理工作中所用到的貴金屬更是一漲再漲，比如眾如周知的黃金Au已從十幾年前的百余元每克上漲到三百多元，以印刷電路板廠每年產量幾十萬套為例，根據(jù)業(yè)界經(jīng)驗如果能更好控制鍍層厚度，企業(yè)每年可節(jié)約上千萬的費用。
*減少工期(作業(yè)人工)
通過X射線儀來評價，管理產品可以輕松知曉產品能發(fā)揮功能時的最小鍍層厚度，從而避免重復電鍍造成的電費和人工費的流失。
*減少修理，修補等產生的制作費用
通過X射線儀可避免鍍層不均或太薄造成的質量問題，以及后續(xù)的返工造成的費用。
科邁斯科技，提供秀的產品，助您應對各種環(huán)境管制，提升產品質量！
| 項目 | 描述 | 項目 | 描述 | |
|---|---|---|---|---|
| 測量元素 | 原子序號22（Ti）~83(Bi) | 鍍層測試軟件 | 薄膜FP法 | |
| X射線管 | 管電壓：50KV 管電流：1mA | 薄膜檢量線法 | ||
| 檢測器 | 比例計數(shù)管 | 測量功能 | 自動測量、中心搜索 | |
| 準直器 | 0.1mmΦ, 0.2mmΦ | 定性功能 | KL標記線、對比顯示 | |
| 影像窗口 | CCD攝像機（帶倍率放大功能） | 安全功能 | 樣品門安全防護機構 | |
| X-ray Station | 計算機+19英寸液晶顯示器 | 使用電源 | 100~240V/15A | |
| 樣品臺移動量 | 250（X）×200（Y）mm | 樣品高度 | 150mm |
