
SE-PDR01離線式工業(yè)DR采用自主研發(fā)的碳納米管X光管以及高分辨率平板探測器,能夠快速獲取優(yōu)質(zhì)的二維檢測圖像。分辨率可達到2.5μm,輕松勝任各種物體的尺寸和缺陷檢測需求。廣泛應(yīng)用于新產(chǎn)品研發(fā)及質(zhì)量抽檢、失效分析。
產(chǎn)品優(yōu)勢
高光子效率碳納米管一體化X射線源
支持多角度2.5D檢測(可升級為3D)
可提供定制化軟件功能
一鍵獲取高分辨率的圖像
應(yīng)用領(lǐng)域
SMT制程bga缺陷檢測
微型發(fā)光二極管芯片/芯片檢測
Pcb內(nèi)層尺寸和缺陷檢測
線鍵合缺陷檢測
IGBT元件缺陷檢測
材料分析
電子連接器
系統(tǒng)規(guī)格
系統(tǒng)參數(shù)
灰度等級:14/16位
系統(tǒng)分辨率:2.5μm.
標準外形尺寸:1454 x 1360 x 1785 mm
整體重量:1000公斤
載物臺尺寸:510 x 440 mm
傾斜角度:60°
探測器
探測器類型:數(shù)字平板探測器
像素尺寸:49.5μm(可選配更高級別)
像素數(shù)量:1300x1152(可選配更高級別)
成像面積:64x57毫米(可選配更高級別)
X射線源
工作電壓:90~150千伏
工作電流:10~150μA
焦點尺寸:3~15μm(可選)
光管類型:閉管