硬盤芯片-60℃~+150℃ 冷熱沖擊試驗(yàn)箱
用途:
冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)***的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。
硬盤芯片-60℃~+150℃ 冷熱沖擊試驗(yàn)箱
控制系統(tǒng):
主控制器采用進(jìn)口日本"OYO"雙回路***液晶顯示觸摸按鍵溫度控制器。該控制器采用液晶顯示觸摸屏,可顯示設(shè)定參數(shù)、試驗(yàn)曲線、運(yùn)行時(shí)間、加熱器工作狀態(tài),PID參數(shù)自整定功能。控制程序的編制采用人機(jī)對(duì)話方式,僅需設(shè)定溫度,就可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)行功能??刂葡到y(tǒng)具備完善的檢測(cè)裝置能自動(dòng)進(jìn)行詳細(xì)的故障顯示。報(bào)警,配置485通訊接口及運(yùn)行軟件。設(shè)定精度:溫度:0.1℃ 時(shí)間:Is用戶程序容量:10×99段。運(yùn)行方式:程序運(yùn)行,恒定運(yùn)行。獨(dú)立超溫保護(hù)儀表。設(shè)備工作時(shí)間累計(jì)計(jì)時(shí)器。低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時(shí)間小于等于15秒。 溫度恢復(fù)時(shí)間小于等于5
技術(shù)參數(shù)
1.溫度范圍:-40℃~150℃(D)
2.濕度范圍:30%~98%R.H(溫度在25℃~95℃)
3.溫度均勻度:≤±2℃ (空載時(shí))
4.濕度均勻度:+2% -3%R.H
5.溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃ (空載時(shí))
6.濕度波動(dòng)度:±2%
7.溫度偏差:≤±2℃
8.濕度偏差:≤±2%
9.降溫速率:0.7~1.0℃/min
10.升溫速率:1.0~3.0℃/min
11.時(shí)間設(shè)定范圍:0~999 小時(shí)
12.電源電壓:380V±10%
13.設(shè)備總功率:3KW~15KW
性能
溫度范圍:-20℃~+150℃-40℃~+150℃-60℃~+150℃-70℃~+150℃
溫度波動(dòng)度:±0.5℃
溫度偏差:≤ ±2.0℃
升溫時(shí)間:-20→+150℃≤ 35分鐘(約3℃/min)
降溫時(shí)間:+20→-20℃≤45分鐘(約1.2℃/min)