x射線衍射試驗檢測機構(gòu)
X射線衍射檢測（XRD）是一種利用X射線與物質(zhì)相互作用來研究物質(zhì)結(jié)構(gòu)的方法。其基本原理是當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同的數(shù)量級，因此由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線衍射。復(fù)達(dá)檢測可提供栓釘相關(guān)的檢測服務(wù)，可出具備CMA/CNAS資質(zhì)的檢測報告，是專業(yè)的第三方x射線衍射檢測機構(gòu)。詳情可聯(lián)系我們進(jìn)行咨詢，關(guān)于x射線衍射檢測的部分內(nèi)容介紹如下：
x射線衍射檢測周期是多久？
到樣后5-7個工作日可出具檢測報告（可加急），根據(jù)樣品及其檢測項目/方法會有所變動，具體需咨詢工程師。
x射線衍射檢測范圍是怎樣？
金屬材料: 鋼材、鋁合金、銅合金、鎳合金、鈦合金、鋅合金、鐵合金等。
無機材料: 晶體、陶瓷、氧化物、硫化物、氮化物、碳化物、硅材料等。
有機材料: 聚合物、纖維素、聚乙烯、聚丙烯、聚苯乙烯、聚酰亞胺、聚酯等。
x射線衍射檢測項目是怎樣？
白度、pH值、鈣交換能力、鎂交換能力、灼燒失量、濕存水量、三氧化二鐵、氧化納、二氧化硅、氧化鈣、氧化鎂等。
晶體結(jié)構(gòu)分析、晶格常數(shù)測定、晶體取向分析、相對晶體含量測定、殘余應(yīng)力測定、晶體缺陷分析、相變溫度測定、晶體畸變分析、晶體尺寸測定、晶體取向分布分析、晶體表面形貌分析、晶體生長研究、晶體純度分析等。
x射線衍射檢測標(biāo)準(zhǔn)是怎樣？
GBZ 115-2023 低能射線裝置放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)(發(fā)布稿)
GB/T 19421-2008 層狀結(jié)晶二硅酸鈉試驗方法
GB/T 22638.8-2016 鋁箔試驗方法 第8部分：立方面織構(gòu)含量的測定
GB/T 23263-2009 制品中石棉含量測定方法
GB/T 23413-2009 納米材料晶粒尺寸及微觀應(yīng)變的測定 X射線衍射線寬化法
GB/T 24576-2009 高分辯率X射線衍射測量GaAs襯底生長的AlGaAs中Al成分的試驗方法
GB/T 30654-2014 Ⅲ族氮化物外延片晶格常數(shù)測試方法
GB/T 30904-2014 無機化工產(chǎn)品 晶型結(jié)構(gòu)分析 X射線衍射法
服務(wù)范圍和優(yōu)勢有哪些？
1、為公司企業(yè)、高等院校、科研單位、事業(yè)單位、醫(yī)院、律師事務(wù)所以及個人客戶等提供專業(yè)技術(shù)服務(wù)。
2、具備專業(yè)的CMA/CNAS資質(zhì)認(rèn)證，檢測資質(zhì)齊全，為客戶提供專業(yè)的咨詢與服務(wù)。
3、實驗室儀器設(shè)備種類齊全，保證測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠；
4、擁有強大的檢測專家團(tuán)隊，全國各地多家分支機構(gòu)；
5、在線一對一服務(wù)流程，根據(jù)客戶需求制定特色檢測方案和解決辦法；
