X射線鍍層測厚儀校正片通過A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)認證，其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產(chǎn)制作標準樣品。

應(yīng)用：適用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）、 Beta-ray及磁感式與渦電流等多種原理之各種規(guī)格與尺寸。

特色：標準片A2LA校正認證，質(zhì)量精良，精度高、穩(wěn)定性好
　 X-Ray、 Beta-Ray、磁感式、渦電流式專用標準片

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

測厚儀標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。如:
單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學鍍層：Ni-P/xx。（所有標準片都附有NIST認證證書）