PJ40半導(dǎo)體檢查顯微鏡

儀器簡(jiǎn)介

1、各種觀察方法下都能得到清晰銳利與高對(duì)比度的顯微圖像。附件齊全,配置完善,可靈活進(jìn)行系統(tǒng)組合與功能拓展。人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)，擁有堅(jiān)實(shí)可靠的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。

2、這款經(jīng)濟(jì)高效的顯微鏡能夠檢查多種器件和晶圓。調(diào)焦機(jī)構(gòu)和照明強(qiáng)度控制裝置相互緊挨，可使用同一 只手操作。特別適合中小尺寸半導(dǎo)體FPD檢查，線路板切片量測(cè)，符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，增強(qiáng)了安全性和可靠性。

3、的明場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)，采用全新半復(fù)消技術(shù)，集明場(chǎng)、斜照明、偏光等多種觀察方式，任何觀察下都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用，進(jìn)行功能選擇，是工業(yè)檢測(cè)的有效工具。