產(chǎn)品信息:
在實(shí)際的科研中,由于樣品/晶圓(Wafer)得尺寸越來(lái)越大,用于測(cè)試的探針臺(tái)相當(dāng)昂貴,我司根據(jù)客戶市場(chǎng)應(yīng)用自主研發(fā)的這款結(jié)構(gòu)小巧,功能實(shí)用,成本較低得TDH系列探針臺(tái),在滿足基本測(cè)試功能基礎(chǔ)上,去除了非必要得部件,該探針臺(tái)系統(tǒng)包含:光學(xué)成像部分,光學(xué)底座,探針座,四維調(diào)整系統(tǒng),真空吸附系統(tǒng);
TDH系列探針臺(tái)包含有獨(dú)立的三個(gè)精密探針座,可以配合數(shù)字源表等完成對(duì)三端器件的測(cè)試,其可以測(cè)試的材料有二極管、晶體管、場(chǎng)效應(yīng)管、晶圓級(jí)器件等等,可以完成對(duì)其的I/V、c/v、電阻、電容等參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。
產(chǎn)品特點(diǎn):
★結(jié)構(gòu)緊湊,功能實(shí)用,質(zhì)量輕巧,方便移動(dòng)
★可用于12寸以內(nèi)樣品測(cè)試
★兼容高倍率電子顯微鏡,可360°旋轉(zhuǎn)和微調(diào)升降
★漏電流精度:10pA/50fa(屏蔽箱內(nèi))
★精密絲杠/燕尾傳動(dòng)結(jié)構(gòu),線性移動(dòng),精密位移,無(wú)回程差設(shè)計(jì)
★應(yīng)用于高等院校/研究所/公司實(shí)驗(yàn)室使用
★1微米以上電極/PAD使用
★模塊化設(shè)計(jì),可以根據(jù)應(yīng)用增加和去除相應(yīng)模塊
產(chǎn)品應(yīng)用:
◆LD/LED/PD的光強(qiáng)/波長(zhǎng)測(cè)試(集成我司光電儀器)
◆材料/器件的IV/CV等特性分析測(cè)試
◆晶圓分析測(cè)試
技術(shù)參數(shù)選型:
規(guī)格/參數(shù) | |||||||
型號(hào) | TDH-4 | TDH-6 | TDH-8 | TDH-12 | |||
外形尺寸(LWH) | 450×300×355mm | 600×450×355mm | 600×500×355mm | 600×600×355mm | |||
電力需求 | 220VC,50-60HZ | ||||||
樣品臺(tái) | 尺寸 | 4寸 | 6寸 | 8寸 | 12寸 | ||
行程 | 整體XYZR四維位移,XY行程100mm,Z軸行程13mm,R軸360°旋轉(zhuǎn)可鎖緊 | ||||||
移動(dòng)精度 | 3μm | ||||||
背電極測(cè)試功能 | 可以引出電極 | 可以引出電極 | 可以引出電極 | 可以引出電極 | |||
定制模塊 | 可定制位移行程和精度 | ||||||
探針調(diào)整座 | XYZ行程 | 13mm-13mm-13mm | |||||
機(jī)械精度 | 標(biāo)配3μm(可以升級(jí)/1μm) | ||||||
漏電精度 | 100fA(配置屏蔽箱) | ||||||
安裝方式 | 可調(diào)磁力吸附/真空吸附 | ||||||
接口形式 | 三同軸(Triax) | ||||||
光學(xué)成像 | 放大倍數(shù) | 7-200倍(可升級(jí)到720倍) | |||||
CCD像素 | 2000W | ||||||
中心距離 | 140mm,升降范圍270mm,總高度350mm | ||||||
顯示器 | 12寸顯示器,將3-17mm的樣品放大到整個(gè)屏幕(可升級(jí)大尺寸顯微鏡) | ||||||
可選附件 | 加熱卡盤(pán) | 高低溫卡盤(pán) | 鍍金卡盤(pán) | ||||
隔振支架 | 積分球測(cè)試選件 | 屏蔽箱 | |||||
射頻測(cè)試附件 | 導(dǎo)入光源支架 | 波長(zhǎng)單色可調(diào)光纖光源(測(cè)光電流) | |||||
顯微鏡調(diào)節(jié)手動(dòng)/電動(dòng)調(diào)節(jié)裝置 | 激光切割顯微鏡 | 轉(zhuǎn)接頭配件 | |||||
創(chuàng)譜儀器可以根據(jù)客戶應(yīng)用搭建探針臺(tái),以達(dá)到更好的使用效果和性價(jià)比 |