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RF射頻芯片的HAST高加速老化測試 試驗(yàn)箱
HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),是用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗(yàn)設(shè)備
其目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力、加快試驗(yàn)過程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時間。
用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗(yàn)等行業(yè)。
RF射頻芯片的HAST高加速老化測試 試驗(yàn)箱 產(chǎn)品特點(diǎn)
1.HAST高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)采用較新優(yōu)化設(shè)計,美觀大方，做工精細(xì)
2.具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業(yè)
3.大容量水箱,試驗(yàn)時間長,全自動補(bǔ)水，試驗(yàn)不中斷
4.與試樣數(shù)量相吻合的試樣信號施加端了
5.采用觸摸屏，具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能
6.采用高效真空泵，使箱內(nèi)達(dá)到較佳純凈飽和蒸汽狀態(tài)
7.一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長
8.多項(xiàng)安全保護(hù)措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法功能顯示。
9.可根據(jù)客戶不同需求定制專用HAST試驗(yàn)設(shè)備（如: HAST內(nèi)箱尺寸及偏壓可滿足客戶不同的測試需要）
RF射頻芯片的HAST高加速老化測試 試驗(yàn)箱
滿足 IEC60068-2-66、JESD22-A110、JESD22-A118 規(guī)范要求
3種控制模式包含：不飽和控制(干濕球溫度控制)、不飽和控制(升溫溫度控制)、濕潤飽和控制。
高壓加速老化試驗(yàn)箱采用優(yōu)化設(shè)計，美觀大方、做工精細(xì)，對應(yīng) IEC60068-2-66 條件
具有直接測量箱內(nèi)溫濕度的干、濕球溫度傳感器；具有緩降壓、排氣、排水功能，控制避免試驗(yàn)結(jié)束后壓力溫度的急變，保證試驗(yàn)結(jié)果的正確。
GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗(yàn).第2-66部分：試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱
JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗(yàn)（溫濕度偏壓壽命）
JESD22-A102高壓蒸煮試驗(yàn)（加速抗?jié)裥詽B透）
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)
JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）
