測鍍層X熒光光譜儀 規(guī)格:
1.元素分析范圍:硫-鈾(S-U)
2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%
3.zui低檢出限:1PPM
4.鍍層檢驗厚度:0.005-50μm(視材料類型而有所不同)
5.樣品腔尺寸:150*120*50(MM)
測鍍層X熒光光譜儀 應用領域:
鍍層成分分析
鍍層厚度分析
鍍層環(huán)保檢測
上海奧析科學儀器有限公司是集開發(fā)、研制、生產(chǎn)分光光度計,紫外分光光度計,火焰分光光度計,熒光分光光度計等各種分析器及實驗室相關設備為一體,以實驗產(chǎn)品為核心的專業(yè)性技術企業(yè)。在經(jīng)營自主品牌產(chǎn)品之外,本公司還和國內(nèi)外多家名企業(yè)合作。
上海奧析科學儀器有限公司主要產(chǎn)品有分光光度計、火焰分光光度計,熒光分光光度計,原子吸收、天平、超聲波等各類型儀器。廣泛應用于大專院校、科研機構、制藥、石油、化工、食品、醫(yī)院、輕工、污水處理、環(huán)境檢測、水質分析、農(nóng)林業(yè)、牧漁等行業(yè)。
本公司始終追求*品質和盡善盡美的服務,不斷加強與國內(nèi)外名專家的交流與合作,公司中擁有一批具有高級技術職稱的專家做指導,擁有從事各類實驗方案的專家和專業(yè)人才。公司擁有一批致力分析儀器開發(fā)、研制、生產(chǎn)十多年的團隊。他們會為客戶提供專業(yè)實驗方案及技術咨詢、設計、改裝和升級。提供較好的解決方案等技術服務,保障專業(yè)完善的售前、售中、售后服務。
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