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HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀

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公司名稱HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部
品牌
型號(hào)
所在地國(guó)外
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024/6/26 7:22:26
訪問(wèn)次數(shù)238

產(chǎn)品標(biāo)簽:

納米顆粒分析儀 SZ-100 干濕法分散 0.3nm ～ 8μm

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部（HORIBA Scientific）隸屬 HORIBA 集團(tuán)，致力于為用戶提供*的檢測(cè)和分析儀器：包括元素分析、熒光、刑偵、ICP、粒度表征、激光拉曼光譜、橢圓偏振光譜、油中硫分析、水質(zhì)和XRF等分析儀器。

結(jié)合旗下的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，包括擁有200多年發(fā)展歷史的光譜制造技術(shù)Jobin Yvon,以及擁有*技術(shù)優(yōu)勢(shì)的IBH, SPEX, Instruments S.A, ISA, Dilor, Sofie, SLM以及 Beta Scientific等。今天，HORIBA Scientific 的各種檢測(cè)分析儀器已經(jīng)遍布各地，并在中國(guó)實(shí)現(xiàn)了銷售和服務(wù)的本土化，位于上海、北京、廣州三地的產(chǎn)品專家、售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)以及全國(guó)各地的代理商機(jī)構(gòu)可充分保障國(guó)內(nèi)用戶的技術(shù)咨詢以及售后服務(wù)需求。

展開(kāi)顯示更多內(nèi)容

HORIBA歐洲總部自從1988年合并了美國(guó)SPEX公司和1995年合并了法國(guó)Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司，完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。如今Jobin Yvon在法國(guó)、美國(guó)、日本、英國(guó)、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家，其分支機(jī)構(gòu)遍布。現(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外，還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品，如：激光拉曼光譜儀（Raman），熒光（壽命）光譜儀（FL），直讀火花光譜儀（SPARK），電感耦合等離子發(fā)射光譜儀（ICP），輝光放電光譜儀（GDS），橢圓偏振光譜儀（Ellipsometry），特殊搭建系統(tǒng)（System）及各種光學(xué)光譜器件（成像光譜儀，光源，IR檢測(cè)器，CCD檢測(cè)器等）。目前，HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼（光譜儀）部、發(fā)射（光譜儀）部、熒光（光譜儀）部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個(gè)部門(mén)。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障！

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準(zhǔn)確測(cè)量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測(cè)，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測(cè)定；還可以用于檢測(cè)蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。

HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀產(chǎn)品信息

SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準(zhǔn)確測(cè)量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測(cè)，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測(cè)定；還可以用于檢測(cè)蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。

SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應(yīng)用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。

產(chǎn)品特點(diǎn)

· 同臺(tái)儀器可測(cè)三種參數(shù)——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)

· 寬檢測(cè)范圍，寬濃度范圍——樣品濃度可達(dá)40%

· 自動(dòng)滴定儀——可用于zeta電位測(cè)量過(guò)程中pH值的自動(dòng)滴定

· 軟件操作簡(jiǎn)單功能強(qiáng)大，一鍵測(cè)量

· 雙光路雙角度粒徑測(cè)量（90° 和173°）

· 采用微量樣品池

技術(shù)參數(shù)

粒徑測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)光譜法）

粒徑測(cè)定范圍：0.3nm ～10μm

粒徑測(cè)量精度：±2%（NIST 可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm）