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半導(dǎo)體芯片HAST測(cè)試

參考價(jià)	￥ 11111
訂貨量	≥1件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱成都中冷低溫科技有限公司
品牌其他品牌
型號(hào)
所在地成都市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024/11/11 14:23:46
訪問次數(shù)112

產(chǎn)品標(biāo)簽:

HAST測(cè)試半導(dǎo)體芯片 HAST 高加速壽命老化

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公司介紹主營產(chǎn)品

成都中冷低溫科技有限公司總部位于中國成都，是一家專注于泛半導(dǎo)體溫度環(huán)境解決方案的創(chuàng)新型高科技公司，

專精特新企業(yè)、科技型企業(yè)、歐盟CE認(rèn)證企業(yè)、ISO9001國際質(zhì)量管理體系認(rèn)證企業(yè)、知識(shí)產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)認(rèn)證企業(yè)。

中冷低溫主要生產(chǎn)高低溫沖擊氣流儀（ThermoTST熱流儀）、接觸式冷熱沖擊機(jī)（ATC/TCU）、高低溫卡盤（ThermoChuck）、高低溫測(cè)試臺(tái)、高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)（PCT）、

非飽和高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)（HAST）、環(huán)境應(yīng)力篩選系統(tǒng)、高低溫循環(huán)箱、高低溫沖擊箱、氣體制冷機(jī)、氣體溫控器、超低溫制冷機(jī)。

為晶圓、芯片、5G通訊、光模塊、集成電路、航空航天、天文探測(cè)、電池包、氫能源等領(lǐng)域的可靠性測(cè)試提供整套溫度環(huán)境解決方案和測(cè)試服務(wù)。

中冷低溫設(shè)備已出口歐盟、泰國、越南、新加坡、馬來西亞等。

在天津、上海、蘇州、深圳、武漢、重慶、西安設(shè)有辦事處。

展開顯示更多內(nèi)容

高低溫沖擊氣流儀，接觸式冷熱沖擊機(jī)，高低溫卡盤，高低溫測(cè)試臺(tái)，高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)，高低溫試驗(yàn)箱，HAST，氣體制冷機(jī)

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產(chǎn)地	國產(chǎn)

半導(dǎo)體芯片HAST測(cè)試，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。相對(duì)于傳統(tǒng)的高溫高濕測(cè)試，HAST增加了容器內(nèi)的壓力，使得可以實(shí)現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果。

半導(dǎo)體芯片HAST測(cè)試產(chǎn)品信息

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半導(dǎo)體芯片HAST測(cè)試

HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。相對(duì)于傳統(tǒng)的高溫高濕測(cè)試，HAST增加了容器內(nèi)的壓力，使得可以實(shí)現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果。

半導(dǎo)體芯片HAST測(cè)試

用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件、金屬材料等在濕度環(huán)境下的可靠性。該試驗(yàn)檢查芯片長期貯存條件下，高溫和時(shí)間對(duì)器件的影響。本設(shè)備適用于量產(chǎn)芯片驗(yàn)證測(cè)試階段的HAST測(cè)試需求，僅針對(duì)非密封封裝(塑料封裝)，帶偏置(bHAST)和不帶偏置(uHAST)的測(cè)試。

半導(dǎo)體芯片HAST測(cè)試

標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)更安全，內(nèi)膽圓弧設(shè)計(jì)防止結(jié)露滴水，符合國家安全容器規(guī)范

多重保護(hù)功能，兩道高溫保護(hù)裝置、濕度用水?dāng)嗨Ｗo(hù)、超壓保護(hù)

穩(wěn)定性更高:內(nèi)置自研PID控制算法，確保溫度、濕度以及壓力值準(zhǔn)確度

濕度自由選擇:飽和與非飽和自由設(shè)定

智能化高:USB數(shù)據(jù)、曲線導(dǎo)出保存

關(guān)鍵詞：芯片試驗(yàn)箱