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BHAST(偏壓)加速老化試驗(yàn)箱
評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1~1000小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生,并記錄電阻值變化狀況,故又叫做CAF試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn),可進(jìn)行BHAST試驗(yàn)。
BHAST(偏壓)加速老化試驗(yàn)箱
特點(diǎn)
·高機(jī)能:采用驅(qū)動(dòng)計(jì)測(cè), 測(cè)試時(shí)焊接工序大幅減少
·軟件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單明了,直觀易操作
·遠(yuǎn)程監(jiān)控功能,可監(jiān)控試驗(yàn)過(guò)程。
·便利性高:構(gòu)造裝著脫落式、 易進(jìn)行保養(yǎng)交換??赏瑫r(shí)試驗(yàn)停 止等聯(lián)動(dòng)裝置功能,系統(tǒng)構(gòu)成靈活。
·測(cè)試自檢功能:點(diǎn)檢、校正方便。
·設(shè)計(jì)精巧,不受場(chǎng)所限制,易移動(dòng)。
·可靠性高:配有CF卡,以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。以UPS作為系統(tǒng)的支撐,確保試驗(yàn)的安全繼續(xù)進(jìn)行。
BHAST(偏壓)加速老化試驗(yàn)箱
用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件(固態(tài)設(shè)備)在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性,對(duì)芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度(偏壓)高加速應(yīng)力壽命老化試驗(yàn)。
應(yīng)用領(lǐng)域: PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級(jí)芯片
BHAST(偏壓)加速老化試驗(yàn)箱
技術(shù)規(guī)格
類型 500V *1 1000V
通道數(shù) 32通道/64通(可選)
工作時(shí)間 1~9999小時(shí)
偏置電壓 -100~+500VDC -100~+1000VDC
記性反轉(zhuǎn) 具備
共負(fù)極測(cè)試(可選) 具備
CAF測(cè)試(可選) 具備
測(cè)試電壓 1.0-99.9VDC (0.01V 步進(jìn)) 100-500VDC (0.1V 步進(jìn)) 1.0-99.9VDC (0.01V 步進(jìn)) 100-1000VDC (0.1V 步進(jìn))