CS電化學工作站采用全浮地式設(shè)計，具有出色的穩(wěn)定性，硬件和功能完善的軟件，為涉及能源、材料、生命科學、環(huán)保等。
具體應(yīng)用于：
（1） 電合成、電沉積（電鍍）、陽極氧化、電解等反應(yīng)機理研究；
（2）電化學分析研究；
（3）能源材料（鋰離子電池、太陽能電池、燃料動力電池和超電容器等）、功能材料以及傳感器的性能研究；
（4）金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評價；
（5）緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護效率的快速評價。
硬件特點
● 雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器
● 內(nèi)置FRA頻響分析儀，頻率范圍 10μHz ~1MHz
● 高帶寬高輸入阻抗的放大器
● 內(nèi)置FPGA DDS信號合成器
● 高功率恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計
● 電壓控制范圍：±10V，槽壓為±21V（可擴展至±200V）
● 電流控制范圍：±2.0A（可擴展至20A）
● 電位分辨率：10μV，電流分辨率：10pA（可延伸至99fA）
軟件特點
① 數(shù)據(jù)分析
伏安曲線的平滑、積分和微分運算，計算各氧化還原峰的峰高、峰面積和峰電位等；
極化曲線的三參數(shù)或四參數(shù)動力學解析，計算Tafel斜率ba，bc，腐蝕電流密度icorr，擴散電流、極化電阻Rp和腐蝕速率等，還可由電化學噪聲譜計算功率譜密度、噪聲電阻Rn和譜噪聲電阻Rsn(f)。
② 實時存儲
CorrTest實時存儲測量數(shù)據(jù)，即使因斷電導(dǎo)致測試中斷，中斷之前的數(shù)據(jù)也會自動保存。
③ 定時測量
CorrTest測試軟件具有定時測量功能， 對于某些需要研究體系隨時間變化特征時，可提前設(shè)好測試參數(shù)與間隔時間，讓儀器在無人值守下自動定時測量，提高實驗效率。
技術(shù)優(yōu)勢
① 交流阻抗
儀器采用相關(guān)積分算法和雙通道同步過采樣技術(shù)，具有較強的抗干擾能力，尤其適合于涂層、混凝土等高阻體系（>109Ω）的交流阻抗測量，也可用于Mott-Schottky 曲線和微分電容曲線繪制。軟件能實時顯示開路電位，用戶無需輸入，即可輸出準確的極化過電位。
② 極化曲線
具有線性極化和Tafel極化曲線測量功能，用戶可設(shè)定循環(huán)極化曲線的陽極回掃電流（鈍化膜擊穿電流），來確定材料的點蝕電位和保護電位，評價晶間腐蝕敏感性。軟件采用非線性擬合算法解析極化曲線，可用于材料耐蝕性和緩蝕劑性能的快速評價。
6063鋁合金在含Ce3+的3% NaCl溶液中的EIS 鈦基非晶態(tài)合金和不銹鋼在3%NaCl溶液
中的動電位極化曲線，掃描速率為1mV/s
③ 伏安分析
能完成線性掃描伏安（LSV）、循環(huán)伏安（CV）、階梯伏安（SCV）、方波伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）、交流伏安（ACV）、溶出伏安等多種電分析方法，集成峰面積、峰電流計算和標準曲線分析功能。
聚吡咯超電容器在0.5 mol/L H2SO4 鉑電極在3 mmol/L K4[Fe(CN)6]+ 0.4 mol/L KCl
溶液中的CV曲線 溶液中的CV 曲線（99mV/s）
④ 電化學噪聲
采用高阻跟隨器和零阻電流計測量腐蝕體系自發(fā)的電位與電流波動，可用于點蝕、電偶腐蝕、縫隙腐蝕和應(yīng)力腐蝕開裂等局部腐蝕研究。通過噪聲譜分析，可評估亞穩(wěn)態(tài)蝕點或裂紋的誘導(dǎo)、生長和死亡過程。基于噪聲電阻和點蝕指數(shù)計算，也可用于局部腐蝕監(jiān)測。
⑤ 功率擴展
CS系列電化學工作站的電流控制范圍為±2.0A，槽壓輸出≥21V，可滿足燃料動力電池、大功率電池充放電、電化學電解或電沉積等領(lǐng)域的需求。采用的功率擴展器，大輸出電流可達20A，槽壓±200V。
⑥ 全浮地測量
CS系列電化學工作站采用全浮地式工作電極，可用于工作電極本身接地體系的電化學研究，如用于高壓釜電化學測試（釜體接地），大地中金屬構(gòu)件（橋梁、混凝土鋼筋）的在線腐蝕研究等。
⑦ 光電測試模塊
CS電化學工作站可以與光強計、分光光度計聯(lián)用，用于光電化學測量，在進行電化學測量的同時記錄光電流或光譜響應(yīng)信號。
⑧ 自定義方法
支持用戶自定義組合測量，用戶可以設(shè)定定時循環(huán)進行某一測試方法或多種方法的組合測試，用于無人值守下的定時自動測量；
提供API通用接口函數(shù)和開發(fā)實例，方便用戶二次開發(fā)和自定義測試方法；
提供用戶自定義腳本編寫范例，用于實現(xiàn)您的電化學實驗技術(shù)。
| 恒電位控制范圍：±10V | 恒電流控制范圍：±2.0A |
| 電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV | 電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù) |
| 電位靈敏度：10μV(>99Hz), 3μV(<> | 電流靈敏度：<> |
| 電位上升時間：﹤1μS(<><>μS(<> | 電流量程：2A～200nA,共8檔 |
| 參比電極輸入阻抗：1012Ω||20pF | 大輸出電流：2.0A |
| 槽壓輸出：±21V（可擴展至±200V) | 電流掃描增量：1mA @1A/mS |
| CV和LSV掃描速度：0.001mV～9900V/s | 電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS |
| CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s | DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～990s |
| SWV頻率：0.001～99KHz | CV的小電位增量：0.075mV |
| AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz，20bit @1kHz | 電流與電位量程：自動設(shè)置 |
| DA分辨率：16bit，建立時間：1μS | 低通濾波器：8段可編程 |
| 通訊接口：USB2.0 | 儀器重量：6.5Kg |
| 外形尺寸（cm）：36.5(W)X30.5 (D)X16 (H) |
|
電化學阻抗測量指標
| 信號發(fā)生器 | |
| 頻率響應(yīng)：10μHz～500KHz | 交流信號幅值：1mV～2500mV |
| 頻率度：0.005% | 信號分辨率：0.1mV RMS |
| DDS輸出阻抗：50Ω | 直流偏壓：-10V～+10V |
| 正弦波失真率：<> | 波形：正弦波，三角波，方波 |
| 掃描方式：對數(shù)/線性，增加/下降 | |
| 信號分析器 | |
| 大積分時間：106個循環(huán)或者105S | 測量時間延遲：0～105秒 |
| 小積分時間：10mS或者一個循環(huán)的長時間 | |
| 直流偏置補償 | |
| 電位補償范圍：-10V～+10V | 電流補償范圍：-1A～+1A |
| 帶寬調(diào)整：自動或手動設(shè)置,共8可調(diào) | |
| 功能方法 | CS120 | CS150 | CS300 | CS310 | CS350 | CS360 | |
| 穩(wěn)態(tài)極化 | 開路電位測量（OCP） | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
| 恒電位極化（i-t曲線） | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電流極化 | ● | ● | ● | ● | ● | ||
| 動電位掃描（TAFEL曲線） | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| 動電流掃描（DGP） | ● | ● | ● | ● | ● | ||
| 暫態(tài)極化 | 任意恒電位階梯波 | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
| 任意恒電流階梯波 | ● | ● | ● | ● | ● | ||
| 恒電位階躍（VSTEP） | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電流階躍（ISTEP） | ● | ● | ● | ● | ● | ||
| 快速電位脈沖 | ● | ||||||
| 快速電流脈沖 | ● | ||||||
| 計時分析 | 計時電位法（CP） | ● | ● | ● | ● | ||
| 計時電流法（CA） | ● | ● | ● | ● | |||
| 計時電量法（CC） | ● | ● | ● | ● | |||
| 伏安分析 | 線性掃描伏安法（LSV） | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
| 線性循環(huán)伏安法（CV） | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| 階梯循環(huán)伏安法（SCV） | ● | ● | ● | ||||
| 方波伏安法（SWV） | ● | ● | ● | ||||
| 差分脈沖伏安法（DPV） | ● | ● | ● | ||||
| 常規(guī)脈沖伏安法（NPV） | ● | ● | ● | ||||
| 常規(guī)差分脈沖伏安法（DNPV） | ● | ● | ● | ||||
| 交流伏安法（ACV） | ● | ● | ● | ||||
| 二次諧波交流伏安（SHACV） | ● | ● | ● | ||||
| 溶出伏安 | 恒電位溶出伏安 | ● | ● | ● | |||
| 線性溶出伏安 | ● | ● | ● | ||||
| 階梯溶出伏安 | ● | ● | ● | ||||
| 方波溶出伏安 | ● | ● | ● | ||||
| 交流阻抗 | 電化學阻抗（EIS）～頻率掃描 | ● | ● | ● | |||
| 電化學阻抗（EIS）～時間掃描 | ● | ● | ● | ||||
| 電化學阻抗（EIS）～電位掃描（Mott-Schottky曲線） | ● | ● | ● | ||||
| 腐蝕測量 | 循環(huán)極化曲線（CPP） | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
| 線性極化曲線（LPR） | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| 動電位再活化法（EPR） | ● | ● | ● | ● | ● | ||
| 電化學噪聲（EN） | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| 電偶腐蝕測量（ZRA） | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| 氫擴散測試（HDT）* | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| 電池測量 | 電池充放電測試 | ● | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電流充放電 | ● | ● | ● | ● | ● | ||
| 光電測量 | 電致調(diào)光測量* | ● | ● | ||||
| 光譜儀測量* | ● | ● | |||||
| 擴展測量 | 盤環(huán)電極測試* | ● | ● | ● | ● | ||
| 數(shù)字記錄儀 | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| 波形發(fā)生器 | ● | ● | ● | ● | |||
| 圓盤電機控制 | ● | ● | ● | ● | |||
注：*氫擴散及旋轉(zhuǎn)盤環(huán)電極測試需配置CS991A精密恒流源或采用CS2350雙恒電位儀。
*光電測量功能用戶選配。
*產(chǎn)品3年質(zhì)保。
儀器配置
1）儀器主機1臺
2）CorrTest測試與分析軟件1套
3）電解池（含鹽橋和排氣管）1套
4）輔助、參比、工作電極各1支
5）模擬電解池1個
6）電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
7）電極電纜線1條
8）電極架（選配*）
9）屏蔽箱（選配*）
10）電腦（選配*）
