Ux-6200貴金屬分析儀
Ux-6200產品信息:
本儀器專門針對貴金屬測試,采用的科技分析X熒光光譜,對貴金屬成份進行無損快速分析,該儀器采用Si-PIN探測器,其分辨率為149±5eV,運用于的基本參數(shù)法,能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素,其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內水平。
Ux-6200應用領域:
貴金屬(Pt、Au、Pd、Ag、Rh等)相關制品的生產、銷售、回收的檢測;
用于各種金屬合金(銅合金、鐵合金、不銹鋼、錫合金等)的成份分析。
Ux-6200功能:
開放式工作曲線,可以根據(jù)需求建立新工作區(qū)
經(jīng)驗系數(shù)法和基本參數(shù)法相結合
測試樣品:各種不同形狀樣品,滿足大樣品測試需求
安全性能:迷宮式設計,達到輻射安全指標
測試操作簡單,實現(xiàn)傻瓜式操作模式
報告模板多樣化,適應各種測試需求
Ux-6200儀器參數(shù):
分析軟件:Ux-6280專用貴金屬分析軟件
分析元素種類:26種元素可同時分析
分析方法:基本參數(shù)法(定量)
分析元素范圍:Na-U,可同時分析26種元素
測量范圍:ppm-99%
測量時間:100-300s
精確度:0.1%(常量相對誤差)
分辨率:149±5eV
管壓:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
功率:350W
外形尺寸:640(W)*474(D)*412(H)(mm3)
樣品倉尺寸:300(W)*300(D)*100(H)(mm3)
重量:約48Kg
工作環(huán)境:15-30°C,相對濕度≤85%(不結露)
工作電源:AC220-240V,50/60Hz,350W
Ux-6200標準配置:
探測器: 2級半導體電制冷;探測器晶體厚度500μm;探測靈敏面積6mm2;Be窗厚度為1mil
高壓電源:高壓范圍0-50kV,功率50W,8h穩(wěn)定性0.05%
X射線管:專用薄鈹窗側窗X射線管(Mo靶、Rh靶)
高清攝像頭裝置
精確定位裝置
自動開蓋裝置