JVL系列光學(xué)影像測量儀
能高效地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置，特別是精密零部件的微觀檢測與質(zhì)量控制。本產(chǎn)品適用于產(chǎn)品開發(fā)、逆向工程、品質(zhì)檢測等領(lǐng)域，如鐘表零件、電子接插件、五金沖壓件、彈簧、線路板等。
JVL系列光學(xué)影像測量儀 特點：
OVM Lite簡易版影像測量軟件，易學(xué)易用；
高硬度、高精密、不易變形的花崗石底座及立柱，穩(wěn)定、耐用；
底光和表面光采用可調(diào)式冷光源（LED），性能穩(wěn)定，方便操作；
測量過程中可連續(xù)變倍，使操作更快捷；
X、Y軸均采用滑塊和導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)，減小測量誤差，保證測量精度；
具備圖文報表輸出功能，可以輕松地得到檢測結(jié)果。
JVL系列光學(xué)影像測量儀 技術(shù)參數(shù)：
| 型號 | JVL2010 | JVL3020 |
| 量測行程(X/Y) (mm) | 200×100×100 | 300×200×200 |
| 全機尺寸（mm） | 1000×650×1650 | |
| 機臺承重kg | 30 | |
| 操作方式 | 手動（可切換快速移動 | |
| 放大倍率 | 光學(xué)放大：0.7～4.5×；影像放大：28×~180× | |
| 電源要求 | 110V—220V±10% 50/60HZ | |
| 光學(xué)尺解析度 | 0.001mm | |
| 線性精度（X/Y） | (3+L/200)μm | |
| 量測精度 | X和Y軸：±2μm | |
| 重復(fù)性 | ±2μm | |
| CCD | 進口彩色（41萬象素SONY sensor） | |
| 測量軟件 | OVM Lite | |
| 適合環(huán)境 | 溫度：20～25℃ 濕度：50%~60% | |
| 電腦配置 | 高性能主機+17寸純平彩顯 | |
JVL系列光學(xué)影像測量儀主要功能：
幾何直接點取測量功能，基本幾何測量，組合元素測量，形位公差評定，座標(biāo)系設(shè)定，二維圖形抄數(shù)， WORD、EXCEL及CAD格式輸入。使用鼠標(biāo)點取工件影像完成自動捕捉功能，不用移動機臺就可以完成測量,操作效率遠超投影儀。
JVL系列光學(xué)影像測量儀量測功能：
基本幾何測量：點、線、圓、弧、角度；
組合元素測量：點、線、圓、弧、組合測量，圓心距、圓切線、兩線中線、中心點、垂直距離、角平分線、兩線交點；
形位誤差評定：
同心度、真圓度、直線度、位置度、傾斜度；
坐標(biāo)系設(shè)定：
有原始座標(biāo)、座標(biāo)平移、座標(biāo)旋轉(zhuǎn)、三點軸，針對物件的圖形進行擺正,或是重設(shè)新的座標(biāo)系都很方便。
基本幾何測量：點、線、圓、弧、角度；
組合元素測量：點、線、圓、弧、組合測量，圓心距、圓切線、兩線中線、中心點、垂直距離、角平分線、兩線交點；
形位誤差評定：
同心度、真圓度、直線度、位置度、傾斜度；
坐標(biāo)系設(shè)定：
有原始座標(biāo)、座標(biāo)平移、座標(biāo)旋轉(zhuǎn)、三點軸，針對物件的圖形進行擺正,或是重設(shè)新的座標(biāo)系都很方便。
測量數(shù)據(jù)可輸入通用的辦公軟件進行統(tǒng)計，如WORD、EXCEL格式，并制作成檢驗報表打印出來。
JVL系列光學(xué)影像測量儀注意事項：
