TriStar II Plus - 高測試通量/多用途分析/體積小
TriStar II 3020為全自動三站式比表面積和孔隙度分析儀,性價比高。它在保證數(shù)據(jù)精度和強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力同時,大大加快了分析速度,可滿足大多數(shù)研究需求。TriStar II也同時提供氪氣選配,可進(jìn)行低比表面測量。該儀器還提供多種分析方法和數(shù)據(jù)處理,用戶可根據(jù)需要選擇不同的計算數(shù)據(jù)。
的軟件和硬件特點(diǎn)
- 增強(qiáng)的產(chǎn)品功能包括:視頻剪輯、計算機(jī)和TriStar之間的以太網(wǎng)通信、內(nèi)置電路測試和診斷的軟件、能夠通過互聯(lián)網(wǎng)進(jìn)行遠(yuǎn)程診斷、可兼容舊型號TriStar及Gemini的數(shù)據(jù)。
- 2.75升,(可選配4L)大容量杜瓦瓶和超長樣品管,保證長時間分析測量。
- 可測量多達(dá)1000個數(shù)據(jù)點(diǎn)的等溫線,可分析得到足夠多的材料結(jié)構(gòu)信息。
- 基于Windows的控制軟件,具有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理功能、SPC報告、等溫吸附熱等。
- 可選不同的樣品制備站,流動/真空加熱等多種方式選擇。
- 設(shè)計精美,體積小,使用方便
低比表面積氪氣選配
- 氪氣選配可測量低至0.001m2/g的比表面積。