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XTU系列X熒光光譜測厚儀

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公司名稱蘇州磐合環(huán)保科技有限公司
品牌
型號
所在地蘇州市
廠商性質(zhì)其他
更新時間2024/4/20 11:46:22
訪問次數(shù)127

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蘇州磐合環(huán)?？萍加邢薰臼且患覍Ｗ⒂诃h(huán)境監(jiān)測，專業(yè)提供在線環(huán)境監(jiān)測系統(tǒng)、前處理系統(tǒng)、常規(guī)分析系統(tǒng)，以及各類檢測綜合解決方案的一站式。蘇州磐合環(huán)保科技有限公司，秉持著「穩(wěn)健篤實、用心經(jīng)營、力求完善」之經(jīng)營理念，結(jié)合「技術(shù)不斷創(chuàng)新、品質(zhì)追求、滿足客戶所需」的品質(zhì)政策下，建構(gòu)追求「交貨準確、產(chǎn)品不良率達到」的品質(zhì)目標。創(chuàng)設(shè)以來，在經(jīng)營層及全體同仁的努力下，已在能量色散X熒光光譜儀系列、手持式合金分析儀系列、手持式激光分析儀等產(chǎn)品，奠定優(yōu)良信譽及優(yōu)異成果。公司具多年的行業(yè)經(jīng)驗，在理化分析領(lǐng)域具有雄厚的技術(shù)實力和完善的售后支持保障、時刻秉承“為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品和服務(wù)”“精誠合作”的經(jīng)營理念不斷開拓創(chuàng)新，提高管理水平，在業(yè)內(nèi)有著良好的口碑。

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產(chǎn)品簡介在線詢價

XTU-4CX熒光光譜儀型號：XTU-4C測量面積：最小0.002mm2鍍層分析：23層鍍層24種元素儀器特點：可手動變焦儀器優(yōu)勢：同元素不同層分析儀器簡介：XTU-4C是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度的鍍層測厚儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計，不但可以測量各種微小樣品，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型

XTU系列X熒光光譜測厚儀產(chǎn)品信息

XTU-4C X熒光光譜儀

型號：XTU-4C

測量面積：最小0.002mm2

鍍層分析：23層鍍層24種元素

儀器特點：可手動變焦

儀器優(yōu)勢：同元素不同層分析

儀器簡介：

XTU-4C是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度的鍍層測厚儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計，不但可以測量各種微小樣品，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型。

該系列儀器使用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內(nèi)的樣品涂鍍層檢測。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

技術(shù)參數(shù)：

1. 元素分析范圍：氯（Cl）- 鈾（U）

2. 涂鍍層分析范圍：氯（Cl）/鋰（Li）- 鈾（U）

3. 厚度檢出限：0.005μm

4. 成分檢出限：1ppm

5. 最小測量直徑0.2mm（最小測量面積0.03mm2）

6. 對焦距離：0-30mm

7. 樣品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

8. 儀器尺寸：550mm*480mm*470mm

9. 儀器重量：45KG

10. XY軸工作臺移動范圍：50mm*50mm

11. XY軸工作臺承重：5KG

應(yīng)用領(lǐng)域：

多元迭代EFP核心算法

專業(yè)的研發(fā)團隊在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上，計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法，結(jié)合的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標樣來校正儀器因子，可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

單涂鍍層應(yīng)用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂鍍層應(yīng)用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金鍍層應(yīng)用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分應(yīng)用：如NiP/Fe，通過EFP算法，在計算鎳磷鍍層厚度的同時，還可精準分析出鎳磷含量比例。

重復(fù)鍍層應(yīng)用：不同層有相同元素，也可精準測量和分析。

如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，層Ni和第三層Ni的厚度均可測量。

配置清單：