phoenix v|tome|x L 300 CT檢測(cè)系統(tǒng)是多功能高分辨率微焦點(diǎn)系統(tǒng)，用于二維和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)和二維無(wú)損X射線(xiàn)檢測(cè)。 它配備有一個(gè)單極300千伏/ 500 瓦的微聚焦源，確保了300千伏的世界上好的放大倍率。其基于花崗巖的操作可處理多達(dá)50千克，長(zhǎng)600 毫米/ 直徑500毫米的大樣本且具有精度。 該系統(tǒng)是一個(gè)用于無(wú)效和缺陷檢測(cè)和復(fù)合材料、鑄件和精密零件如注射噴口或渦輪葉片的三維測(cè)量（如*檢測(cè)）的*的解決方案。 可選的高功率納米焦距X射線(xiàn)管可使 phoenix v|tome|x L 300適應(yīng)任何種類(lèi)的工業(yè)和科學(xué)高分辨率CT應(yīng)用。
phoenix v|tome|x L 300 CT檢測(cè)系統(tǒng)
主要功能
因其單極300千伏的管設(shè)計(jì)（在焦點(diǎn)和樣本大小之間有5毫米的距離）,放大倍率可用于高吸收樣品的定量無(wú)損檢測(cè)
三維測(cè)量包用于空間測(cè)量，具有*精度，再現(xiàn)性和親和力
鋼鐵零件和大型鋁鑄件的故障檢測(cè)和可重現(xiàn)的三維測(cè)量
二維X射線(xiàn)檢測(cè)和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct and nano ct) 模式之間的輕松轉(zhuǎn)換可細(xì)化至1微米
顧客利益：
廣泛應(yīng)用于不同樣本而無(wú)需改變X射線(xiàn)管
通過(guò)高動(dòng)態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測(cè)器獲取的30 FPS（幀每秒）和菱形|窗口（可選）的快速CT采集和清晰的影像
通過(guò) VELO | CT在幾秒鐘或幾分鐘內(nèi)（取決于體積大?。┩瓿筛斓娜SCT重建
用點(diǎn)擊&測(cè)量|CT進(jìn)行高精度且可重現(xiàn)的三維測(cè)量，使用datos | X 2.0 - 在少于1小時(shí)之內(nèi)自動(dòng)生成*檢測(cè)記錄是可能的
高達(dá)10倍的增加的燈絲壽命，通過(guò)長(zhǎng)壽命的|燈絲（可選）確保了*穩(wěn)定性系統(tǒng)效率
三維計(jì)算機(jī)斷層掃描 工業(yè)X射線(xiàn)三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct) 的經(jīng)典應(yīng)用是對(duì)金屬和塑料鑄件的檢測(cè)和三維測(cè)量。 然而， phoenix| X射線(xiàn)的高分辨率X射線(xiàn)技術(shù)開(kāi)辟了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用，如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。
渦輪葉片是復(fù)雜的高性能鑄件,要滿(mǎn)足高質(zhì)量和安全性的要求。 CT可進(jìn)行故障分析以及精確的三維測(cè)量（如壁厚）。 材料科學(xué) 高分辨率計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct)用于檢測(cè)材料、復(fù)合材料、燒結(jié)材料和陶瓷，但也用來(lái)對(duì)地質(zhì)或生物樣品進(jìn)行分析。 材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是三維可視的。  玻璃纖維復(fù)合材料的nanoCT ®： 纖維氈（藍(lán)色）的纖維方向和基質(zhì)樹(shù)脂（橙色）會(huì)顯示出來(lái)。 右邊: 樹(shù)脂內(nèi)的空洞會(huì)以暗腔出現(xiàn)。 左邊： 樹(shù)脂已淡出，以更好地使纖維氈可視化。 氈內(nèi)的單根纖維是可見(jiàn)的。 傳感器和電氣工程 在傳感器和電子元件的檢測(cè)中，高分辨率X射線(xiàn)技術(shù)主要用于檢測(cè)和評(píng)估接觸點(diǎn)、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。 它甚至可以檢測(cè)半導(dǎo)體元件和電子設(shè)備（焊點(diǎn)），而無(wú)需拆卸設(shè)備。  一個(gè)表達(dá)式探針（連接器端視圖）的微焦點(diǎn)計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)圖像顯示鉻鎳鐵合金保護(hù)套（黃色），包括激光焊接的接縫，壓接連接（藍(lán)色）和陶瓷的氧傳感器的觸點(diǎn)（藍(lán)/紅）。 | 測(cè)量 用X射線(xiàn)進(jìn)行的三維測(cè)量是可對(duì)復(fù)雜物體內(nèi)部進(jìn)行無(wú)損測(cè)量的技術(shù)。 通過(guò)與傳統(tǒng)的觸覺(jué)坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)的對(duì)比，對(duì)一個(gè)物體進(jìn)行計(jì)算機(jī)斷層掃描的同時(shí)可獲得所有的曲面點(diǎn) - 包括所有無(wú)法使用其他測(cè)量方法無(wú)損進(jìn)入的隱蔽形體，如底切。 v|tome|x s 有一個(gè)特殊的三維測(cè)量包，其中包含空間測(cè)量所需的所有工具，從校準(zhǔn)儀器到表面提取模塊,具有可能的精度，可再現(xiàn)且具有親和力. 除了二維壁厚測(cè)量，CT體數(shù)據(jù)可以快速方便地與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，例如，分析完成元件，以確保其符合所有的規(guī)定尺寸。  對(duì)氣缸蓋的三維測(cè)量 鑄件與焊接 射線(xiàn)無(wú)損檢測(cè)用于檢測(cè)鑄件和焊縫缺陷。 微焦點(diǎn)X射線(xiàn)技術(shù)和工業(yè)X射線(xiàn)計(jì)算機(jī)斷層掃描(mico ct)的結(jié)合，使得微米范圍內(nèi)的缺陷探測(cè)成為可能，并提供低對(duì)比度缺陷的三維圖像。
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