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制冷光纖光譜儀

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公司名稱萊森光學(xué)(深圳)有限公司
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廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2024/3/22 19:28:00
訪問次數(shù)147

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萊森光學(xué)(LiSen Optics)作為的光譜學(xué)解決方案提供商，是一家提供光機(jī)電- -體化集成解決方案的高科技公司,我們專注于光譜傳感和光電應(yīng)用系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。萊森光學(xué)(深圳)有限公司于2016年在中國(guó)成立，同時(shí)萊森光學(xué)(LiSen Optics)在美國(guó)三大光學(xué)研究中心之-的佛羅里達(dá)州建立了LISEN OPTICS INC (美國(guó)公司)。自成立以來始終秉持'技術(shù)弓|進(jìn)與技術(shù)創(chuàng)新并重的發(fā)展理念,以掌握核心技術(shù)和戰(zhàn)略驅(qū)動(dòng)創(chuàng)新作為公司的發(fā)展思路，致力于為客戶提供高品質(zhì)、專業(yè)化、精細(xì)化的光電技術(shù)服務(wù)。憑借著在光學(xué)行業(yè)中豐富的經(jīng)驗(yàn),我們能夠?yàn)槊恳晃豢蛻簟绷可矶ㄗ鰸M足個(gè)性化需求的光機(jī)電一體化解決方案。經(jīng)過全體員工的不斷努力，公司先后獲得了深圳市和國(guó)家認(rèn)定、ISO9001 質(zhì)量管理體系認(rèn)證、國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)體系認(rèn)證、深圳市雙軟企業(yè)認(rèn)證、國(guó)家科技型中小企業(yè)認(rèn)定，目前正在申請(qǐng)國(guó)家CNAS實(shí)驗(yàn)室認(rèn)證等資質(zhì)。此外，公司自成立以來一直致力于為科研及工業(yè)用戶提供具有革命性*技術(shù)的光譜傳感和光電應(yīng)用系統(tǒng)。我們還具備極其豐富的定制經(jīng)驗(yàn)，如:光機(jī)設(shè)計(jì)、機(jī)電設(shè)計(jì)、軟件開發(fā)、定制系統(tǒng)，以滿足不同用戶的多樣化需求。目前，我們的產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于物理學(xué)、化學(xué)、生物制藥、能源環(huán)境、半導(dǎo)體制造和食品加工等領(lǐng)域。萊森光學(xué)主要產(chǎn)品分類:1、遙感探測(cè)光譜測(cè)量解決方案:地物光譜儀系列，無人機(jī)載高光譜成像系統(tǒng)、水體光譜儀等2、高光譜成像相機(jī)測(cè)量解決方案:便攜式高光譜成像系統(tǒng)、光譜相機(jī)、紅外高光譜相機(jī)等3、水質(zhì)光譜測(cè)量解決方案:多參數(shù)水質(zhì)光譜集成模塊,硝氮光譜傳感模塊等4、VCSEL-TOF測(cè)量解決方案:科研級(jí)多功能LIV光譜功率測(cè)量系統(tǒng),工業(yè)級(jí)激光光譜功率測(cè)試儀5、光譜透反射測(cè)量解決方案:多角度透反射光譜測(cè)量系統(tǒng)，IR孔微區(qū)透反射集成方案6、子效率光譜測(cè)量解決方案:電致發(fā)光量子效率光譜系統(tǒng)，光致發(fā)光量子效率光譜系統(tǒng)7、LIBS激光誘導(dǎo)擊穿光譜測(cè)量解決方案: -體化LIBS激光誘導(dǎo)擊穿光譜系統(tǒng),分體式LIBS激光誘導(dǎo)擊穿光譜系統(tǒng)8、光譜輻射測(cè)量解決方案:紫外光譜輻射儀，寬光譜紫外可見近紅外光譜輻射儀，中紅外光譜輻射儀、LED光譜輻射測(cè)系統(tǒng)9、光學(xué)積分球測(cè)量解決方案:積分球均勻光源，激光功率積分球，通用標(biāo)準(zhǔn)型積分球，透反射積分球，光譜輻射標(biāo)定積分球，定制積分球等10、微型光譜儀測(cè)量解決方案: OEM微型光譜儀、高分辨率微信光譜儀、高靈敏度紅外光譜儀等11、光譜原位在線測(cè)量解決方案: :光譜電化學(xué)原位測(cè)量系統(tǒng)、厭氧停留光譜全吸收原位測(cè)量系統(tǒng)12、光學(xué)附件:光源系列，漫反射標(biāo)準(zhǔn)板系列，光纖探頭系列，其他光學(xué)附件目前，我司現(xiàn)有大量用于光譜檢測(cè)的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)和精密光電分析設(shè)備，基于這些精密儀器和實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，我們能更精準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)復(fù)雜光路搭建、精密光學(xué)測(cè)試、光電聯(lián)調(diào)、以及光譜檢測(cè)數(shù)據(jù)的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證、貴重光學(xué)元件保存、批量生產(chǎn)數(shù)據(jù)可重復(fù)性等,從而掌握了高精度、高穩(wěn)定性、精密光譜檢測(cè)和生產(chǎn)技術(shù)，建立了完善的產(chǎn)品數(shù)據(jù)溯源體系。特別要指出的是，萊森光學(xué)(深圳)有限公司-中國(guó)公司擁有專業(yè)光譜標(biāo)定實(shí)驗(yàn)室，如光譜響應(yīng)標(biāo)定、輻照度標(biāo)定、輻亮度標(biāo)定、光譜波長(zhǎng)標(biāo)定等,建立了國(guó)際的溯源體系可溯源NIST/NIM/PTB/NPL，在行業(yè)內(nèi)部形成了良好口碑，為國(guó)內(nèi)客戶提供了更優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和本地化技術(shù)服務(wù)。

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制冷光纖光譜儀產(chǎn)品信息

LiSpec-UVIR300TEC制冷光纖光譜儀是萊森光學(xué)（LiSen Optics）的明星產(chǎn)品，采用了在200-1000nm高量子效率的1044x64像素薄型背照制冷型面陣CCD，其像元尺寸達(dá)到24µm×24µm，具有非常高的科研級(jí)靈敏度，同時(shí)采用了高性能穩(wěn)定的TE制冷裝置、降噪低噪聲電路控制技術(shù)，光譜儀暗噪聲極低，優(yōu)良的穩(wěn)定性，高信噪比。LiSpec-UVIR300TEC采用了大焦距C-T光學(xué)平臺(tái)設(shè)計(jì)，雜散光光陷阱控制技術(shù)，大大提升了光譜儀的性噪比、靈敏度以及熱穩(wěn)定性，非常適合紫外輻射、拉曼、熒光等微弱光譜信號(hào)的測(cè)量。

LiSpec-UVIR300TEC制冷光纖光譜儀光譜覆蓋范圍200-950nm，可根據(jù)用戶需求配置不同刻線數(shù)的光柵，狹縫大小，消二級(jí)衍射濾光片，獲得不同的波長(zhǎng)范圍光譜和分辨率。此外，LiSpec-UVIR300TEC光譜儀還采用了可更換狹縫設(shè)計(jì)，用戶可以方便輕易的自己進(jìn)行狹縫更換，配置多種不同寬度的狹縫，以滿足不同分辨率和靈敏度的光譜測(cè)量需求，以拓展其靈活性。

藍(lán)色方形圖片.jpg 光譜范圍200-950nm可選，大焦距CT光路設(shè)計(jì)，分辨率高，狹縫可更換，擴(kuò)展靈活

藍(lán)色方形圖片.jpg 熱電致冷背照式面陣CCD，光譜響應(yīng)量子效率高、穩(wěn)定性好

藍(lán)色方形圖片.jpg 噪聲電路控制技術(shù)，極低暗噪聲，信噪比、動(dòng)態(tài)范圍高

藍(lán)色方形圖片.jpg 高靈敏度及熱穩(wěn)定性，非常適合拉曼、熒光等微弱信號(hào)光譜應(yīng)用

藍(lán)色方形圖片.jpg LiSpecView全功能光譜測(cè)試軟件，提供透反射、輻射、拉曼、吸光度、激光功率、顏色測(cè)量等多種測(cè)量模塊

Model	LiSpec-UVIR300TEC
光學(xué)平臺(tái)	對(duì)稱 Czerny-Turner，焦距110mm
光譜范圍	200-950 nm(可選)
光學(xué)分辨率（FWHM）	0.2-5nm(取決于光柵配置)
狹縫	50um
雜散光	≤0.05%
靈敏度（計(jì)數(shù)/微瓦每毫秒）	550.000
探測(cè)器	薄型背照式TE致冷1044X644像元面陣CCD
CCD制冷溫度	DT = -35 °C（相對(duì)環(huán)境溫度）
信噪比	1200:1
動(dòng)態(tài)范圍	65000:1
暗噪聲（RMS）	≤3 counts
AD 轉(zhuǎn)換	18-bit， 6 MHz
校正線性	≥99%
積分時(shí)間	1ms-15min
接口	USB 2.0 (120 Mbps) / RS-232 (115200mMbps)
光纖接頭	SMA905；FC/PC接頭
濾光片	內(nèi)含線性漸變消高階濾光片
探測(cè)器	面陣背照式制冷型CCD，1044×64 pixels，像素大小24×24μm2； TEC制冷： -15℃；溫度穩(wěn)定性：±0.1℃；靈敏度550,000 counts/μW per ms；量子效率：≥85%；
I/O接口	IPT1-30接口、1路模擬輸入、 2路數(shù)字輸入、2路數(shù)字輸出、觸發(fā)同步
拓展功能口	30 pin 擴(kuò)展功能口，支持BreakOut-Board及BreakOut-Cable 擴(kuò)展外部功能
軟件	包含7種常用光譜測(cè)量模式，C模式、-BK模式、R模式、T模式、A模式、Ab模式及Ir模式；支持4 種觸發(fā)模式，包括Normal、Level、Edge及Synchronization觸發(fā)模式；還包含CIE1976Lab顏色測(cè)量功能，CIE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量光度參數(shù)，輻射度學(xué)參數(shù)，峰值波長(zhǎng)，F(xiàn)WHM,輻射積分強(qiáng)度，激光功率功能，隨時(shí)間監(jiān)測(cè)光強(qiáng)度功能
供電	USB 2.0，250mA（默認(rèn)）
工作溫度	0-55℃
尺寸/重量	190 × 120 × 66 mm，1Kg

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拉曼測(cè)量系統(tǒng)主要由光譜儀、激光器、拉曼探頭、拉曼識(shí)別光譜分析軟件等組成，拉曼散射主要為斯托克斯和反斯托克斯，斯托克斯拉曼散射通常要比反斯托克斯散射強(qiáng)得多，拉曼光譜儀通常測(cè)定的大多是斯托克斯散射，常用拉曼光譜儀有532/785/1064拉曼光譜儀，拉曼測(cè)量相對(duì)熒光信號(hào)會(huì)更弱一個(gè)數(shù)量級(jí)，

通常我們?cè)卺槍?duì)微弱拉曼信號(hào)測(cè)量我們要進(jìn)行表面拉曼增強(qiáng)（SERS）的方法來提高拉曼信號(hào)SERS。

LiSpec-UVIR300TEC制冷光纖光譜儀因其的靈敏度和高信噪比的特點(diǎn)，可以搭配激光器、拉曼探頭等配件，進(jìn)行對(duì)微弱光譜信號(hào)的拉曼測(cè)量應(yīng)用，廣泛應(yīng)用于食品安全、化學(xué)實(shí)驗(yàn)室、生物及醫(yī)學(xué)等光學(xué)方面領(lǐng)域，研究物質(zhì)成分的判定與確認(rèn)；還可以應(yīng)用于刑偵中對(duì)的檢測(cè)及珠寶行業(yè)的寶石鑒定。

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物體的顏色可以由CIE1976（L*a*b*）顏色空間來表述。L*代表顏色的亮度，正a*值代表紅色，負(fù)a*值代表綠色，色調(diào)（Hue），色度（Chroma），與此相似，正b*值代表黃色，負(fù)b*值代表藍(lán)色。L*a*b*值可由樣品（物體）的CIE三刺激值X，Y，Z和標(biāo)準(zhǔn)光源的三刺激值Xn，Yn，Zn推導(dǎo)得到，物體顏色的CIE三刺激值X，Y，Z是把標(biāo)準(zhǔn)光源的相對(duì)功率P、物體的反射率R（或透射率T）和CIE標(biāo)準(zhǔn)觀測(cè)函數(shù)（2度或10度角）相乘得到。把所得到的值在可見光范圍內(nèi)（從380到780nm，5nm步長(zhǎng)）對(duì)波長(zhǎng)進(jìn)行積分就可得到三刺激值。專業(yè)的顏色測(cè)量軟件，測(cè)量得到的L*a*b*值和參考色，就可以得到色差。

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輻射光能量可以量化為輻射通量，即一種表征從光源發(fā)出的每秒輻射能量（W）的度量標(biāo)準(zhǔn)。輻射測(cè)量一般要通過已知光譜能量分布的標(biāo)準(zhǔn)光源，對(duì)光譜儀系統(tǒng)進(jìn)行輻射標(biāo)定，才能通過量化參數(shù)進(jìn)行輻射測(cè)量。輻射能量與人眼視覺相關(guān)聯(lián)（光度學(xué)），就可以得到按照CIE中所定義的表征觀測(cè)者平均視覺的光譜發(fā)光效率函數(shù)。因此輻射測(cè)量定義輻射度學(xué)參數(shù)、光度學(xué)參數(shù)、色度學(xué)參數(shù)。輻射度學(xué)參數(shù)主要以輻照度μW/cm²、輻亮度µWatt/sr、輻射通量µWatt以及光子數(shù)µMol/s/m²，µMol/m²，µMol/s和µMol，光度學(xué)參數(shù)流明Lumens、光照度Lux、光強(qiáng)度Candela，色度學(xué)參數(shù)X，Y，Z，x，y，z，u，v，色溫、CRI顯色指數(shù)等

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光譜儀測(cè)量吸光度的方法是將某一波長(zhǎng)的平行光通過一塊平面平行物體，對(duì)透過物體的光束進(jìn)行檢測(cè)。由于一部分能量被樣品中的分子吸收，檢測(cè)的入射光的強(qiáng)度要高于透過樣品的光強(qiáng)。吸光度被廣泛運(yùn)用于液體和氣體的光譜測(cè)量技術(shù)中，可以對(duì)物質(zhì)進(jìn)行定量鑒別或指紋認(rèn)證等，還可以將該應(yīng)用集成到工業(yè)應(yīng)用環(huán)境和客戶所關(guān)注的測(cè)試中。

使用萊森光學(xué)模塊化光譜儀，可針對(duì)特定的吸光度測(cè)量來選擇不同波長(zhǎng)范圍和分辨率的光譜儀，并且能在實(shí)驗(yàn)室或者現(xiàn)場(chǎng)，對(duì)整套光學(xué)測(cè)量裝置進(jìn)行快速配置。可以基于萊森光學(xué)優(yōu)質(zhì)的光譜儀，選擇紫外光源、不同光程氣室、吸收池、特定吸收光路模塊、光纖探頭進(jìn)行靈活易用的搭配，針對(duì)不同的吸光度試驗(yàn)搭配出多種配置選擇。

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薄膜測(cè)量系統(tǒng)是基于白光干涉原理來確定光學(xué)薄膜的厚度。白光干涉圖樣通過數(shù)學(xué)函數(shù)被計(jì)算出薄膜厚度。對(duì)于單層膜，若已知薄膜介質(zhì)的n和k值即可計(jì)算出它的物理厚度。測(cè)量的膜層厚度從10 nm到50 um，分辨率可達(dá)1 nm。薄膜測(cè)量應(yīng)用于半導(dǎo)體晶片生產(chǎn)工業(yè)，此時(shí)需要監(jiān)控等離子刻蝕和沉積加工過程。還可用于其它需要測(cè)量在金屬和玻璃基底上鍍制透明膜層的領(lǐng)域，如金屬表面的透明涂層和玻璃襯底。

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隨著工業(yè)的蓬勃發(fā)展，對(duì)材料本身特性的質(zhì)量控制愈加嚴(yán)格，利用光纖光譜儀進(jìn)行快速準(zhǔn)確的透/反射光譜的測(cè)量技術(shù)也日益成熟。透/反射光譜測(cè)量是光譜測(cè)量的基本手段，通常需要使用光譜儀、光源、光纖、測(cè)量支架、標(biāo)準(zhǔn)參比樣品、和測(cè)量軟件等設(shè)備。對(duì)于不同種類的樣品，為了獲取更好的光譜數(shù)據(jù)，這兩種基本模式又會(huì)演化為更多的形式。

光纖光譜儀采用光纖光路，解決了光路在儀器集成中的限制。并且萊森光學(xué)的光纖光譜儀具有體積小，穩(wěn)定性高，支持軟件二次開發(fā)，配件豐富等特點(diǎn)，已經(jīng)成功的廣泛應(yīng)用于玻璃、高分子材料等行業(yè)的測(cè)試。萊森光學(xué)為用戶提供了以光譜儀為核心的光譜測(cè)量設(shè)備，利用這些配置豐富的設(shè)備，即可搭建各種常見的光譜測(cè)量系統(tǒng)。

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熒光物質(zhì)在特定波長(zhǎng)的輻射能量輻射下，能發(fā)射出具有一定光譜分布的輻射。熒光光譜測(cè)量靈敏度高、選擇性強(qiáng)、樣品用量少、方法簡(jiǎn)便且具備環(huán)保性，具有如上諸多優(yōu)點(diǎn)，所以在工程應(yīng)用中有著廣泛的應(yīng)用，如在食品加工過程中用于食品安全的監(jiān)測(cè)、生物醫(yī)學(xué)中用于病變的熒光診斷、地質(zhì)學(xué)中用于石油礦物勘探、

土壤礦物成分的測(cè)定以及物質(zhì)中微量元素的檢測(cè)等等。

熒光光譜測(cè)量通常需要高靈敏度的光譜儀。對(duì)于大多數(shù)熒光應(yīng)用來說，產(chǎn)生的熒光能量只相當(dāng)于激發(fā)光能量的3%左右。熒光的光子能量比激發(fā)光的光子能量小，波長(zhǎng)長(zhǎng)，而且一般都是在各個(gè)方向上輻射能量的散射光。萊森光學(xué)光纖光譜儀采用了可更換狹縫、可選擇的波長(zhǎng)范圍和分辨率設(shè)計(jì)，使客戶能根據(jù)自己的需求配置自由搭配適合參數(shù)的熒光測(cè)量系統(tǒng)。