基于相機(jī)式原理，超短脈沖光束分析儀內(nèi)部芯片采用CMOS傳感器，因此可以實(shí)現(xiàn)連續(xù)激光以及脈沖激光的檢測，對于50mW至500mW的入射激光，可以實(shí)現(xiàn)直接檢測，無需增加額外的衰減元件。
Beam Profile Camera 是德國degger-tools生產(chǎn)用于測量光束輪廓和超短脈沖激光位置而研發(fā)的測量儀器，主要適用于三個(gè)波段，分別為：1030/1064nm，515/532nm，343/355nm。儀器的有效傳感面積為11.264mm × 11.264mm，可以檢測半徑為1mm到7.5mm的入射激光。
對于光束質(zhì)量參數(shù)，M2和發(fā)散角，同樣可以實(shí)現(xiàn)測量，并且適用于第三方階段，用于手動測量整個(gè)輪廓信息，也可以選擇全自動測量。在使用儀器采集數(shù)據(jù)時(shí)，需要用戶搭配移動平臺，通過手動輸入測量位置信息，在移動平臺上采集15個(gè)激光截面信息，其中5個(gè)在瑞利長度內(nèi)，5個(gè)在瑞利長度左側(cè)，5個(gè)在瑞利長度右側(cè)。之后通過內(nèi)部程序合成處理。此時(shí)，可以將光束質(zhì)量參數(shù)的精度控制在±5 ％。
相機(jī)式光斑分析儀規(guī)格參數(shù)：
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| Beam Profile Camera |
| 傳感器類型 | CMOS |
| 尺寸 | 30mm×30mm×30mm |
| 光譜范圍： | 1030/1064nm，515/532nm，343/355nm |
| 功率范圍 | 50mW — 500mW |
| 總分辨率 | 4.19 Mpixel |
| 芯片尺寸 | 11.264mm×11.264mm |
| 像素大小 | 5.5 μm |
| 精度-光束位置 | ± 1 μm |
| 精度-光束質(zhì)量-M2 | ± 5 ％ |
Degger-tools相機(jī)式光斑分析儀功能包括
- 45°和135°的橫截面圖
- X, Y, R的位置變化
- 直徑X, Y的變化
- M2測量
- 二維能量分布圖示
- 水平截面圖示
- 垂直剖面圖示
相機(jī)式光斑分析儀訂購型號及描述：
Beam Profile Camera
