天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗,專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測厚儀可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測厚儀是一款功能強大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測厚儀的性能特點:滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求;φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求;高精度移動平臺可精確定位測試點,重復定位精度小于0.005mm;采用高度定位激光,可自動定位測試高度;定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊;鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點;高分辨率探頭使分析結果更加精準;良好的射線屏蔽作用;測試口高度敏感性傳感器保護。
以下是艾克賽普為您介紹天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測厚儀的技術參數(shù),如有相關問題,請聯(lián)系長沙艾克賽普,聯(lián)系電話: 。
型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
天瑞Skyray Thick800A X熒光鍍層測厚儀的標準配置:開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。Si-Pin探測器。信號檢測電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器。保護傳感器。計算機及噴墨打印機。
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