Photon TechSystemPhts大面積紅外激光觀察卡

吸收光譜范圍：0.75~2.13um，光譜靈敏性高

激光雷達(dá)和測(cè)距儀都可以用于距離探測(cè)，其中激光雷達(dá)可作為大氣探測(cè)，它們是應(yīng)用較為廣泛的激光應(yīng)用技術(shù)。因?yàn)樗麄兊墓饴穮^(qū)別于一般的小型光路，所以具有較為苛刻的對(duì)準(zhǔn)和校準(zhǔn)條件，且因?yàn)橄到y(tǒng)不同，一般的校準(zhǔn)光路只能校準(zhǔn)一種光學(xué)系統(tǒng)，不具有普遍性。

如上圖，Photon TechSystem （簡(jiǎn)稱Phts）生產(chǎn)的EL系列發(fā)光屏能夠?qū)⒉豢梢姽怙@示出來，且這種大面積紅外調(diào)光片（大面積紅外顯示卡）的有效面積超過1平方米，可用于測(cè)距儀、大地測(cè)量?jī)x器、激光雷達(dá)和特殊設(shè)備等大孔徑光束的激光系統(tǒng)。其特點(diǎn)：進(jìn)行大活動(dòng)區(qū)域的展示臺(tái)的對(duì)齊，且能夠在各種天氣條件下工作，吸收光譜范圍：0.75~2.13um，光譜靈敏性高，可以在很大程度上減輕客戶的調(diào)試難度。這種大面積紅外調(diào)光片又叫做大面積倍頻片，大型激光觀察卡，大面積紅外顯示卡，激光雷達(dá)紅外激光觀察卡，大面積紅外激光探測(cè)卡、紅外觀察卡等等。

如果激光雷達(dá)采用較大的接收視場(chǎng)來確保即使收發(fā)光軸偏離也能接收到信號(hào)的話，那么會(huì)引入較大的背景光噪聲，影響探測(cè)精度，降低探測(cè)效率，這對(duì)于要求越來越高的光學(xué)應(yīng)用來講，是不可接受的。所以激光雷達(dá)一般會(huì)設(shè)計(jì)非常小的發(fā)散角的激光發(fā)射和非常窄的視場(chǎng)接收角，來保證探測(cè)精度，但較大提高了對(duì)準(zhǔn)精度。

但雷達(dá)發(fā)出的光線是不可見光，不能被人眼所觀察，所以只能借助光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)。為了提高對(duì)準(zhǔn)精度，研究人員設(shè)計(jì)了自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)裝置，目前的自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)裝置通常在接收光學(xué)系統(tǒng)的后端設(shè)置ccd或cmos等面陣成像器件，用分光或者切換光路的方法，使回波光或共光路指示光成像在上述面陣器件上，對(duì)比面陣器件上的光斑像與接收視場(chǎng)的校準(zhǔn)關(guān)系來衡量失配量，以此來微調(diào)激光發(fā)射軸或接收視場(chǎng)光軸完成收發(fā)匹配。但該系統(tǒng)會(huì)損失部分接收光，且系統(tǒng)較為復(fù)雜。但如果你換了個(gè)其他大型雷達(dá)光路，就需要設(shè)計(jì)不同的校準(zhǔn)光路，不具有兼容性。

一般雷達(dá)系統(tǒng)的校準(zhǔn)設(shè)備會(huì)受到天氣的影響較大。在大霧或暴雨等惡劣天氣時(shí)光路與天氣良好時(shí)不一致，會(huì)誤導(dǎo)調(diào)試人員；受環(huán)境影響和熱脹冷縮的作用，光束會(huì)在一定范圍內(nèi)波動(dòng)。這些都是無法輕易獲得的信息，會(huì)給用戶帶來不便和困擾。 所以Photon TechSystem 生產(chǎn)的EL系列發(fā)光屏能夠?qū)⒉豢梢姽怙@示出來

Photon TechSystem大面積紅外激光探測(cè)卡規(guī)格：

Photon TechSystem激光雷達(dá)紅外激光觀察卡特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)

- 高防潮性和高機(jī)械特性；

- 屏幕能夠在各種天氣條件下在現(xiàn)場(chǎng)工作；

- 工作溫度范圍很廣，從 -40 oC 到 +50 oC 以上；

- 高光譜靈敏度；

- 可提供定制尺寸。

大面積紅外激光探測(cè)卡應(yīng)用：

-激光雷達(dá)

-測(cè)距儀

-大地測(cè)量?jī)x