掃描電子顯微鏡 SU3500具有實現(xiàn)了“3 kV加速電壓7 nm分辨率”的全新電子光學系統(tǒng), 可實現(xiàn)實時立體成像的“實時立體觀察功能”＊1、以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器”＊1它為觀察和分析提出了嶄新的標準。
*1：
自選
掃描電子顯微鏡 SU3500特點
- 低加速電壓觀察時分辨率更高，可更好地觀察樣品zui表面的細微形狀和更有效地降低樣品的損壞
- 全新設(shè)計的電子光學系統(tǒng)和信號處理技術(shù)實現(xiàn)了高速掃描和低噪音的觀察
- 和以前的常規(guī)掃描電子顯微鏡相比＊2自動功能縮短＊3了大約11秒
- 具有在低真空時可以非常好地觀察樣品zui表面的細微形狀的“UVD(超高靈敏度可變壓力探測器)”＊4
- 具有實現(xiàn)了實時立體成像的“實時立體觀察功能”＊4
*2：
和日立SEM S-3400N相比
*3：
根據(jù)觀察條件的不同，時間會有變動
*4：
自選
規(guī)格
| 項目 | 描述 | |
|---|---|---|
| 二次電子分辨率 | 3.0 nm(加速電壓=30 kV，WD=5 mm高真空模式) 7.0 nm(加速電壓=3 kV，WD=5 mm高真空模式) | |
| 背散射電子分辨率 | 4.0 nm(加速電壓=30 kV，WD=5 mm低真空模式) 10.0 nm(加速電壓=5 kV，WD=5 mm高真空模式) | |
| 放大倍率 | 5 - 300,000倍(底片倍率＊5） 7 - 800,000倍(顯示器顯示倍率＊6） | |
| 加速電壓 | 0.3～30kV | |
| 可變壓力范圍 | 6～650Pa | |
zui大樣品尺寸 | 直徑 200 mm | |
| 樣品臺 | X | 0～100mm |
| Y | 0～50mm | |
| Z | 5～65mm | |
| R | 360° | |
| T | -20～90° | |
| 可觀察區(qū)域 | 直徑 130 mm(旋轉(zhuǎn)并用) | |
| zui大樣品高度 | 80mm（WD＝10mm） | |
| 馬達臺 | 5軸標配 | |
| 電子光學系統(tǒng) | 電子槍 | 預對中的鎢燈絲 |
| 物鏡光闌 | 4孔可動光闌 | |
| 探檢測器 | 埃弗哈特 索恩利 二次電子探測器 高靈敏度半導體背散射電子檢測器 | |
| EDX分析 WD | 10 mm(取出角35°) | |
| 圖像顯示 | 操作系統(tǒng) | Windows®7(有更改，恕不另行通知) |
| 圖像顯示模式 | 全屏模式(1,280 × 960 像素) 小屏模式(800 × 600 像素) 雙圖像顯示(800 × 600 像素) 四屏幕顯示(640 × 480像素) 信號混合模式 | |
| 排氣系統(tǒng) | 操作 | 全自動排氣 |
| 渦輪分子泵 | 261升/秒 × 1 | |
| 機械泵 | 135 L/min.(162 L/min.，60Hz) × 1 | |
*5：
以127 mm × 95 mm(圖像尺寸4" × 5")的顯示尺寸規(guī)定倍率
*6：
以345 mm × 259 mm(像素1,280 × 960)的顯示尺寸規(guī)定倍率
觀察例
試料：樹脂填料(玻璃纖維)
加速電壓：1 kV
放大率：×1,000
試料：*顆粒
加速電壓：3 kV
放大倍率：×15,000 樣品未作導電性處理
樣品提供：由東北大學 垣花 眞人 様
