NTEGRA SPECTRA
納米領域的跨學科研究：AFM +共聚焦拉曼+ SNOM + TERS
SPM和共聚焦顯微鏡/拉曼散射光譜儀的集成。由于增強了拉曼散射，因此可以以高達10 nm的分辨率進行光譜/顯微鏡
技術(shù)指標
NTEGRA Spectra-AFM /共聚焦拉曼與熒光/ SNOM / TERS（納米拉曼）集成：新科學的關(guān)鍵
界面發(fā)生變化，當今顯微鏡領域最激動人心的變化發(fā)生在將多種技術(shù)連接在一起的地方。NTEGRA Spectra是一個很好的例子，它將原子力顯微鏡（AFM），共焦拉曼和熒光顯微鏡的全功能結(jié)合在一起，并將掃描近場光學顯微鏡（SNOM）集成在一個平臺上.AFM與共焦拉曼/熒光顯微鏡的不同配置
立式同時進行AFM-拉曼-TERS *和不透明樣品的SNOM成像的配置* TERS：增強的拉曼散射，增強的熒光等
針對同時進行AFM-拉曼-TERS *和SNOM成像的InvertedOptimized樣品在透明基質(zhì)（活細胞，納米顆粒等）上
側(cè)面照明選項用于促進不透明樣品的TERS *測量
光纖掃描近場光學顯微鏡（SNOM）基于石英纖維的SNOM技術(shù)。
懸臂掃描近場光學顯微鏡（SNOM）基于帶孔懸臂的SNOM技術(shù)。
- 原子力顯微鏡（30種模式）
- 共焦拉曼/熒光/瑞利顯微鏡
- 掃描近場光學顯微鏡（SNOM / NSOM）
- 針對增強拉曼光譜和熒光（TERS，TEFS，TERFS）和散射SNOM（s-SNOM）進行了優(yōu)化
所有可能的激發(fā)/檢測和TERS幾何形狀的解決方案
工作原理模式：
模式
- AFM（機械，電氣，磁性，納米操縱等）
- 白光顯微鏡和共聚焦激光（Rayleigh）成像
- 共焦拉曼成像和光譜學
- 共聚焦熒光成像和光譜
- 掃描近場光學顯微鏡（SNOM）
- 增強拉曼和熒光顯微鏡（TERS，TEFS，TERFS）
受控環(huán)境：
- 溫度
- 濕度
- 氣體
- 液體
- 電化學環(huán)境
- 外磁場
規(guī)格書
- 共焦拉曼/熒光顯微鏡
- AFM / STM：與光譜集成
- 軟件
- 光譜學
- 掃描近場光學顯微鏡（SNOM）
- 針對針尖增強拉曼散射（TERS）和其他與針尖相關(guān)的光學技術(shù)進行了優(yōu)化
- （S-SNOM，SNIM，TEFS，STM-LE等）
共焦拉曼/熒光顯微鏡
- 共聚焦拉曼/熒光/瑞利成像與原子力顯微鏡同時運行（一次樣品掃描）
- 衍射極限空間分辨率：XY 200 nm，Z 500 nm（帶浸沒物鏡）
- 真正的信仰 軟件上的按鈕可控制電動共焦針孔，以獲得信號和共聚焦
- 電動可變擴束器/準直器：針對每個激光器和所使用的每個物鏡分別調(diào)整激光束的直徑和準直度
- 具有強大圖像分析功能的全3D（XYZ）共焦成像
- 高光譜成像（在1D，2D或3D共聚焦掃描的每個點記錄完整的拉曼光譜），并進行進一步的軟件分析
- 光學光刻（矢量，光柵）
AFM / STM：與光譜集成
- 垂直和倒置光學AFM配置（分別針對不透明和透明樣本進行了優(yōu)化）；
- 側(cè)面照明選項
- 分辨率（數(shù)值孔徑）光學元件與AFM同時使用：立式0.7 NA，倒置1.3-1.4 NA
- 同時獲取AFM / STM和共焦拉曼/熒光圖像（一次掃描）
- 支持所有標準SPM成像模式（30種模式）-與共焦拉曼/熒光結(jié)合
- 低噪音AFM / STM（原子分辨率）
- 由于光學AFM頭的特殊設計，可將源自光學顯微鏡主體的振動和熱漂移降至
- 聚焦跟蹤功能：由于AFM Z反饋，樣品始終保持聚焦；可以獲得非常粗糙或傾斜樣品的高質(zhì)量共聚焦圖像
軟件
- AFM和拉曼的無縫集成；所有AFM / Raman / SNOM實驗以及進一步的數(shù)據(jù)分析均在同一軟件中進行
- 1D，2D和3D高光譜圖像的強大分析
- 強大地導出到其他軟件（Excel，MatLab，Cytospec等）
光譜*
- 520毫米長的高效光譜儀，帶4個電動光柵
- 可見，紫外和紅外光譜范圍
- 埃歇爾光柵具有超高色散；光譜分辨率：0.007 nm（<0.1 1="">
- 最多可以安裝3個不同的探測器
- TE冷卻（低至-100oC）的CCD攝像機。EMCCD攝像機是可選的—用于超快成像
- 光子計數(shù)模式下的光子倍增器（PMT）或雪崩光電二極管
- 用于快速共聚焦激光（Rayleigh）成像的光子倍增器
- 激發(fā)和檢測通道中的柔性電動偏振光學器件，交叉偏振拉曼測量
- 只需單擊幾下鼠標，即可在不同激光器之間實現(xiàn)全自動切換
掃描近場光學顯微鏡（SNOM）*
- 支持兩種主要的SNOM技術(shù)：（i）基于石英纖維探針，（ii）基于硅懸臂探針
- 支持的所有模式：傳輸，收集，反射
- 檢測到所有SNOM信號：激光強度，熒光強度，光譜學
- SNOM光刻（矢量，光柵）
針對增強拉曼散射（TERS）和其他與相關(guān)的光學技術(shù)（S-SNOM，SNIM，TEFS，STM-LE等）進行了優(yōu)化
- 所有現(xiàn)有的TERS幾何形狀均可用：從底部，頂部或側(cè)面照明/收集
- 可以使用不同的SPM技術(shù)和TERS探針：攻絲和剪切力模式下的STM，AFM懸臂，石英音叉
- 雙重掃描（用于TERS中的熱點映射）：按樣本掃描，按筆尖/激光點掃描
- 電動偏振光學元件可為TERS產(chǎn)生偏振
AFM-拉曼測量可以在空氣，受控氣氛或液體中進行-所有溫度都可變（適用于倒置配置）
- 列出的某些功能是可選的-基本系統(tǒng)配置中未包含
