薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE 60(精確定位測量)
MProbe 60 是一站式系統(tǒng),專為研發(fā)中心和小型制造而設(shè)計(jì)。它結(jié)合了測量厚度/n&k 與自動(dòng)化小點(diǎn)測量的能力。MProbe 60 已應(yīng)用于研發(fā)納米技術(shù)中心??梢钥焖倏煽康販y量 1 nm至 2 mm的厚度,包括多層薄膜堆疊。不同的MProbe 60 型號(hào)主要受的波長范圍和分辨率影響,進(jìn)而決定了可測量的厚度范圍。
薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE 60的優(yōu)勢:
1.具有靈活和模塊化的映射自動(dòng)化的一站式系統(tǒng)
2.的精度 <0.01nm 或="">0.01nm>
3.500+ 擴(kuò)展材料數(shù)據(jù)庫
4.軟件:用戶友好且功能豐富的 TFCompanion 軟件甚至可以處理zui復(fù)雜的應(yīng)用程序。層數(shù)沒有限制,支持背面反射、表面粗糙度、暗度等等。集成的相機(jī)和成像軟件允許精確定位測量位置并直接在圖像上顯示結(jié)果
薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE 60選型列表:
MProbe 60 | 波長范圍 | 厚度范圍 |
VISLX | 400nm -1000nm | 10nm – 75μm |
UVVisSR | 200nm-1000nm | 1nm-75μm |
UVVisF | 200nm-900nm | 1nm – 5μm |
VISHR | 700nm -1100nm | 1μm – 400μm |
NIR | 900nm-1700nm | 50nm -100μm |
VISNIR | 400nm -1700nm | 10nm-100μm |
UVVISNIR | 200nm-1700nm | 1nm-100μm |
NIRHR | 1530nm-1580nm | 25μm-2000μm |
關(guān)于昊量光電:
昊量光電,您的光電超市!
上海昊量光電設(shè)備有限公司專注于光電領(lǐng)域的技術(shù)服務(wù)和產(chǎn)品銷售。致力于引進(jìn)國外優(yōu)質(zhì)的光電器件制造商的技術(shù)與產(chǎn)品,為國內(nèi)客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù)。我們力爭在原產(chǎn)廠商與客戶之間搭建起溝通的橋梁與合作的平臺(tái)。
您可以通過我們昊量光電的網(wǎng)站了解更多的產(chǎn)品信息,或直接。