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SENTECH-光譜橢偏儀- (SENresearch 4.0)

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱上海德竹芯源科技有限公司
品牌
型號(hào)SENresearc
所在地上海
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2024/2/12 14:51:55
訪問(wèn)次數(shù)205

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

上海德竹芯源科技有限公司是一家專注于功率器件、光電器件、射頻器件、量子器件、MEMS傳感器領(lǐng)域的設(shè)備銷(xiāo)售、系統(tǒng)集成、設(shè)備國(guó)產(chǎn)化的公司。主要為高校、研究所、中試量產(chǎn)線及晶圓FAB廠提供半導(dǎo)體工藝設(shè)備、檢測(cè)設(shè)備、封裝設(shè)備、測(cè)試設(shè)備。目前公司已成為國(guó)內(nèi)少數(shù)幾家專業(yè)提供半導(dǎo)體工藝、檢測(cè)、封裝、測(cè)試整體解決方案的企業(yè)。公司主要成員為復(fù)旦大學(xué)、上海微系統(tǒng)所等半導(dǎo)體相關(guān)專業(yè)博士，擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富、技術(shù)過(guò)硬的團(tuán)隊(duì)。能夠出色地完成售前售中、售后的服務(wù)。目前公司已與眾多國(guó)際半導(dǎo)體設(shè)備企業(yè)建立了良好的合作關(guān)系(如:EVG、SAWNATEC、SENTECH、PICOSUN、SYSKEY、 Mavemn Panalyrical、PHL-CHINA、TEMPRESS,ROHDE&SCHWARZ、MPI等)，致力于根據(jù)用戶的科研方向和量產(chǎn)的器件類(lèi)別提供相應(yīng)的全套設(shè)備選型和工藝整體解決方案。

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無(wú)線電綜合測(cè)試儀

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SENresearch 4.0 是 SENTECH 新的光譜橢偏儀。每一臺(tái) SENresearch 4.0 光譜橢偏儀都是根據(jù)客戶具體配置的光譜范圍、選項(xiàng)和現(xiàn)場(chǎng)可升級(jí)附件而制造的。

SENTECH-光譜橢偏儀- (SENresearch 4.0) 產(chǎn)品信息

寬光譜范圍和高光譜精度

● SENresearch 4.0 光譜橢偏儀覆蓋寬的光譜范圍，從 190nm（深紫外）到 3500nm（近紅外）。傅立葉紅外光譜儀 FTIR 提供了高光譜分辨率用以分析厚度高達(dá) 200μm 的厚膜。

沒(méi)有光學(xué)器件運(yùn)動(dòng)(步進(jìn)掃描分析器原理)

● 為了獲得測(cè)量結(jié)果，在數(shù)據(jù)采集過(guò)程中沒(méi)有光學(xué)器件運(yùn)動(dòng)。步進(jìn)掃描分析器(SSA)原理是 SENresearch 4.0 光譜橢偏儀的一個(gè)特性。

雙補(bǔ)償器 2C 全穆勒矩陣測(cè)量

● 通過(guò)創(chuàng)新的雙補(bǔ)償器 2C 設(shè)計(jì)擴(kuò)展了步進(jìn)掃描分析器 SSA 原理，允許測(cè)量全穆勒矩陣。該設(shè)計(jì)是可現(xiàn)場(chǎng)升級(jí)和實(shí)現(xiàn)成本效益的附件。

SpectraRay/4 綜合橢偏儀軟件

● SpectraRay/4 是用于材料分析的全功能軟件包。SpectraRay/4 包括用于與引導(dǎo)圖形用戶界面進(jìn)行研究的交互模式和用于常規(guī)應(yīng)用的配方模式。

● SENresearch 4.0 是 SENTECH 新的光譜橢偏儀。每一臺(tái) SENresearch 4.0 光譜橢偏儀都是根據(jù)客戶具體配置的光譜范圍、選項(xiàng)和現(xiàn)場(chǎng)可升級(jí)附件而制造的。

● SENresearch 4.0 使用快速的傅立葉紅外光譜儀 FTIR 測(cè)量至 2500 nm 或 3500 nm 的近紅外光譜。它提供了較寬的光譜范圍，具有*信噪比，可選擇的光譜分辨率?？蓽y(cè)量硅薄膜厚度高達(dá) 200 μm。傅立葉紅外光譜儀 FTIR 的測(cè)量速度與二極管陣列配置相比，也可選擇高達(dá) 1700 納米。

● 新的金字塔形狀的自動(dòng)角度計(jì)具有從 20 度到 100 度的角度范圍。光學(xué)編碼器支持精度和角度設(shè)置的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。光譜橢偏儀手臂可獨(dú)立移動(dòng)，用于散射測(cè)量和角度分辨透射測(cè)量。

● SENresearch 4.0 根據(jù)步進(jìn)掃描分析器(SSA)原理進(jìn)行操作。SSA 將強(qiáng)度測(cè)量與機(jī)械運(yùn)動(dòng)分離，從而允許分析更加粗糙的樣品。所有光學(xué)部件在數(shù)據(jù)采集期間都處于靜止?fàn)顟B(tài)。此外，SENresearch 4.0 包括用于自動(dòng)掃描和同步應(yīng)用的快速測(cè)量模式。

● 定制的 SENresearch 4.0 橢偏儀可配置用于標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用。例如介電層堆疊、紋理表面、光學(xué)和結(jié)構(gòu)(3D)各向異性樣品。為各種各樣的應(yīng)用提供了預(yù)定義的配方。