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Park NX-HDM|原子力顯微鏡|韓國帕克

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱上海百賀儀器科技有限公司
品牌
型號Park NX-HD
所在地
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時間2024/2/10 17:34:15
訪問次數(shù)130

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上海百賀儀器科技有限公司由上海佰衡儀器科技有限公司組建而來。多年來佰衡儀器精心研發(fā)制造各種試驗(yàn)機(jī)、試驗(yàn)箱及非標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備，服務(wù)于全國各大企業(yè)院所，是一家技術(shù)型的生產(chǎn)廠家。為了更好服務(wù)客戶，滿足用戶一站式的采購需求，上海百賀儀器順勢而生，并與國內(nèi)外多家優(yōu)秀儀器供應(yīng)商*保持良好穩(wěn)定的合作關(guān)系，能夠在產(chǎn)品價格、技術(shù)服務(wù)、儀器維修、配件供給、軟件升級等方面得到更多的支持，讓客戶獲取更多的增值服務(wù)。
上海百賀儀器科技有限公司秉承‘佰衡儀器’的經(jīng)營理念，一直致力于提升中國實(shí)驗(yàn)室檢測水平，作為專業(yè)化的儀器公司，我們能為您提供更全面、更優(yōu)質(zhì)、更專業(yè)的實(shí)驗(yàn)室解決方案。百賀儀器的產(chǎn)品及服務(wù)涉及金屬、橡膠、塑料、石油、建筑材料、汽車、電子、電工、家電、醫(yī)療、包裝印刷等諸多領(lǐng)域，享譽(yù)八方。

百賀儀器堅(jiān)持“客戶*，服務(wù)*”的服務(wù)理念，崇尚“誠信、奉獻(xiàn)、共贏”的企業(yè)價值觀，勵精圖治，開拓進(jìn)取。公司由一支充滿活力的高素質(zhì)開拓型團(tuán)隊(duì)組成，技術(shù)過硬，經(jīng)驗(yàn)豐富，可以滿足不同客戶的需求，為客戶提供周到、熱情、滿意的服務(wù)。不論是售前還是售后服務(wù)，百賀儀器都力求嚴(yán)謹(jǐn)、及時、全面；換位思考，仔細(xì)傾聽，做客戶忠實(shí)的顧問式伙伴。

百賀儀器的承諾：*的品質(zhì)，專業(yè)的服務(wù)。

百賀儀器的目標(biāo)：您Z貼心的實(shí)驗(yàn)儀器供應(yīng)商。

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產(chǎn)品簡介在線詢價

對于媒介和基體領(lǐng)域的工程師而言，識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級實(shí)現(xiàn)自動缺陷識別、掃描和分析，從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學(xué)檢查工具直接進(jìn)行連接，這就意味著自動缺點(diǎn)檢查通量會大幅提高。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內(nèi)低的本底噪聲的True Non-Contact™技術(shù)，Pa......

Park NX-HDM|原子力顯微鏡|韓國帕克產(chǎn)品信息

Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measurement
對于媒介和基體領(lǐng)域的工程師而言，識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級實(shí)現(xiàn)自動缺陷識別、掃描和分析，從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學(xué)檢查工具直接進(jìn)行連接，這就意味著自動缺點(diǎn)檢查通量會大幅提高。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內(nèi)的本底噪聲和的True Non-Contact™技術(shù)，Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量確的原子力顯微鏡。

Higher Throughput, Automatic Defect Review
對于媒介和基體領(lǐng)域的工程師而言，識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級實(shí)現(xiàn)自動缺陷識別、掃描和分析，從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學(xué)檢查工具直接進(jìn)行連接，這就意味著自動缺點(diǎn)檢查通量會大幅提高。

Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement
業(yè)內(nèi)對于超平媒介和基體的要求越來越高，所以需要滿足設(shè)備體積不斷減小的需求。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內(nèi)的本底噪聲和的True Non-Contact™技術(shù)，Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量確的原子力顯微鏡。

Automatic Defect Review for Media and Substrates
Higher Throughput, Automatic Defect Review
NX-HDM的自動缺陷檢查功能(Park ADR)可加速和改良媒介和基體缺陷的識別、掃描和分析流程。借助光學(xué)檢查工具所提供的缺陷位置圖，Park ADR可自動定位這些位置并進(jìn)行成像（分兩步）：
(1) 縮小掃描成像，以準(zhǔn)確定位缺陷。
(2) 放大掃描成像，以獲取缺陷的細(xì)節(jié)。在真實(shí)缺陷測試中，我們可以看到相比于傳統(tǒng)的方法，該自動功能可將缺陷檢查通量提高10倍。

Automated Search Scan & Zoom-in Scan
經(jīng)過優(yōu)化的掃描參數(shù)讓兩步式掃描更為快速：
(1) 快速的低分辨率搜尋式掃描，來準(zhǔn)確定位缺陷。
(2) 高分辨率的放大掃描，來獲取缺陷的細(xì)節(jié)?？烧{(diào)節(jié)的掃描尺寸和掃描速度參數(shù)能滿足用戶的所有需求。

Automatic Transfer and Alignment of Defect Maps to AFM
借助的映射算法，從自動光學(xué)檢測(APO)工具中獲取的缺陷坐標(biāo)圖可準(zhǔn)確地傳入和映射至Park NX-HDM。該技術(shù)讓全自動高通量缺陷成像成為可能。

Map of Defect Coordinates from an Optical Inspection Tool

Accurate Sub-Angstrom Surface Roughness Measurement
Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement
業(yè)內(nèi)對于超平媒介和基體的要求越來越高，所以需要滿足設(shè)備體積不斷減小的需求。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內(nèi)的本底噪聲和的True Non-Contact™技術(shù)，Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量確的原子力顯微鏡。

Accurate AFM Scan by True Non-Contact™ Mode
True Non-Contact™ Mode

探針磨損更低=高分辨率掃描更長久

無損式探針-樣品接觸=樣品變化程度最小

避免參數(shù)依賴

Tapping Imaging

探針磨損更快=掃描圖像模糊

破壞性探針-樣品接觸=樣品受損變化

高參數(shù)依賴性

Accurate AFM Topography with Low Noise Z Detector
True Sample Topography™ without piezo creep error
形貌使用了低噪聲Z軸探測器信號
寬帶寬下0.02 nm的低Z軸探測器噪聲
Park NX AFM

no-creep-effect

前沿和后沿?zé)o過沖
只需出廠前進(jìn)行一次校準(zhǔn)

Conventional AFM

creep-effect

Automatic Measurement Control
自動化軟件讓NX-HDM的操作不費(fèi)吹灰之力。測量程序針對懸臂調(diào)諧、掃描速率、增益和點(diǎn)參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化，為您提供多位置分析。自動化軟件會按照測量文件中預(yù)設(shè)的程序進(jìn)行樣品測量。Park的用戶友好型軟件界面讓用戶可靈活執(zhí)行全系統(tǒng)功能。創(chuàng)建新測量文件只需要10分鐘左右的時間，而修改現(xiàn)有的測量文件則需要不到5分鐘的時間。

Park NX-HDM具有：
自動、半自動和手動模式
各自動程序的可編輯測量方法
測量過程實(shí)時監(jiān)測
自動分析所獲取的測量數(shù)據(jù)

Automatic-Measurement-Control