SZ901納米粒度及Zeta電位分析儀產(chǎn)品介紹:
SZ901納米粒度及Zeta電位分析儀是在SZ900基礎(chǔ)上基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度和Zeta電位分析系統(tǒng),采用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)原理分別進(jìn)行納米粒度測(cè)量和Zeta電位分析,被廣泛應(yīng)用于有機(jī)或無機(jī)納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征及樣品體系穩(wěn)定性及顆粒團(tuán)聚傾向性的檢測(cè)和分析。
SZ901的性能和主要特點(diǎn)包括:
◆經(jīng)典90°動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量粒徑,測(cè)量范圍覆蓋0.3nm – 15μm
◆激光多普勒電泳技術(shù)用于Zeta電位分析,可預(yù)知分散體系的穩(wěn)定性及顆粒團(tuán)聚的傾向性
◆加持自動(dòng)恒溫技術(shù)的功率可達(dá)50mW, 波長638nm的固體激光光源,儀器即開即用
◆激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術(shù)
◆ 信號(hào)光與參考光的光纖合束及干涉技術(shù)
◆ 集成光纖技術(shù)的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測(cè)器
◆ 常規(guī)溫度控制范圍可達(dá)0°C - 90°C, 可選120°C, 精度±0.1°C
◆新一代高速數(shù)字相關(guān)器,動(dòng)態(tài)范圍大于10¹¹
◆冷凝控制–干燥氣體吹掃技術(shù)
技術(shù)指標(biāo):
測(cè)量原理 | 動(dòng)態(tài)光散射(DLS)、靜態(tài)光散射(SLS)、電泳光散射(ELS) |
粒徑測(cè)量角度 | 90° |
粒徑測(cè)量范圍 | 0.3nm -15μm* |
粒徑度 | 優(yōu)于±1% (平均粒徑,NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)樣品) |
粒徑重復(fù)性 | 優(yōu)于±1% (平均粒徑,NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)樣品) |
粒徑測(cè)量小樣品濃度 | 0.1mg/ml |
粒徑測(cè)量小樣品量 | 3ul* |
Zeta電位測(cè)量范圍 | -600mV - +600mV |
電導(dǎo)率 | 270mS/cm |
適用Zeta電位測(cè)量的粒徑 | 3nm – 100μm* |
電導(dǎo)率度 | ±10% |
分子量范圍 | 340Da-2 x 107Da |
溫度控制范圍 | 0°C - 90°C (120°C可選) |
溫度控制精度 | ±0.1°C |
光源 | 集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的功率50mW, 波長638nm固體激光器 |
相關(guān)器 | 高速數(shù)字相關(guān)器,自適應(yīng)通道配置 |
檢測(cè)器 | 高靈敏度APD |
系統(tǒng)重量 | 17kg |
外形尺寸 | 365mm x 475mm x 180mm(LxWxH) |