臺(tái)式火花直讀光譜儀測(cè)Mg基體
全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶(hù)現(xiàn)場(chǎng)補(bǔ)充配置
儀器體積小巧，對(duì)實(shí)驗(yàn)室空間要求低
全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性
樣品測(cè)試速度快，單次測(cè)試過(guò)程少于40秒
儀器使用和維護(hù)簡(jiǎn)單、方便，對(duì)人員要求低
原廠安裝分析程序，測(cè)試數(shù)據(jù)，適用合號(hào)齊全
配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對(duì)儀器進(jìn)行周期性校正
不使用化學(xué)試劑，測(cè)試過(guò)程安全、環(huán)保
技術(shù)優(yōu)勢(shì)
OES8000s廣泛應(yīng)用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析，快速 穩(wěn)定、可靠測(cè)試幾十種元素，滿(mǎn)足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選多方面檢驗(yàn)需求，是生產(chǎn)金屬產(chǎn)品的設(shè)備。
全譜檢測(cè)測(cè)試各種金屬和元素。
基于COMS檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù)，測(cè)試各種金屬中元素的譜線，方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測(cè)試。
配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶(hù)處補(bǔ)充測(cè)試元素、分析程序。
供應(yīng)商提供核心部件
光譜色散元件——光柵由德國(guó)Zeiss/法國(guó)JY公司制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力
光譜檢測(cè)器——COMS探測(cè)器由日本濱松制造，確保譜線檢測(cè)靈敏、低噪聲
光室恒溫系統(tǒng)
光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫。
由此溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。除特殊維護(hù)，平時(shí)保養(yǎng)一般不需進(jìn)行描跡。
同時(shí)檢測(cè)器工作在恒溫環(huán)境有助于光電轉(zhuǎn)換性能的穩(wěn)定。
快速同時(shí)分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素
將已預(yù)處理樣品置于樣品臺(tái)后，OES8000s可在至多40秒內(nèi)呈現(xiàn)測(cè)試結(jié)果。
可根據(jù)客戶(hù)需求，測(cè)試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見(jiàn)元素含量。
的測(cè)試方案
長(zhǎng)期測(cè)試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶(hù)提供成熟的測(cè)試方案。
測(cè)試方案采用針對(duì)材料元素含量分類(lèi)的分析程序，滿(mǎn)足用戶(hù)各類(lèi)常見(jiàn)測(cè)試需求。
分析程序由原廠采用、標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)儀器軟件擬合、校正。
用戶(hù)只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù)，不需購(gòu)買(mǎi)大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
工作條件
工作溫度：15-30℃
相對(duì)濕度：≤70%
電 源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω
實(shí)驗(yàn)室無(wú)震動(dòng)、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體
技術(shù)性能及指標(biāo)
1. 分光室設(shè)計(jì)
帕邢-龍格結(jié)構(gòu),羅蘭圓直徑400mm
波長(zhǎng)范圍140 – 680nm
像素分辨率10pm
恒溫33℃±0.2℃
特殊材質(zhì)鑄造，保證光室形變小
間歇式真空系統(tǒng)，可保證真空泵運(yùn)行時(shí)間小于5%
2. 凹面光柵
刻線密度3600l/mm
一級(jí)光譜線色散率：1.04 nm/mm
3. 檢測(cè)器
線陣CMOS
4. 分析時(shí)間
依樣品種類(lèi)而不同，一般少于40秒
5. 激發(fā)光源
全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)
高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)
頻率100-1000Hz
電流1-80A
6. 激發(fā)臺(tái)
3mm樣品臺(tái)分析間隙
噴射電極技術(shù)
特殊設(shè)計(jì)的氣路系統(tǒng)，保證消耗
7. 尺寸和重量
高450mm 長(zhǎng)900mm 寬600 mm
120 kg
8. 功率
功率1500W
待機(jī)功率70W
