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〖德國(guó)Langer印刷電路板抗干擾系統(tǒng)〗

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公司名稱上海凌茂電子科技有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2023/12/22 13:27:23
訪問次數(shù)93

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

上海凌茂電子科技有限公司是一家以技術(shù)行業(yè)經(jīng)驗(yàn)為背景的儀器儀表設(shè)備綜合服務(wù)商，公司以國(guó)內(nèi)外眾多的儀器設(shè)備生產(chǎn)商為依托，秉承，專注，專心的企業(yè)理念，致力于為工業(yè)、大學(xué)、科研院所等眾多行業(yè)客戶提供完善的測(cè)試測(cè)量技術(shù)和產(chǎn)品服務(wù)。公司總部設(shè)立于中國(guó)經(jīng)濟(jì)中心—上海市，目前擁有全資境外公司凌茂科技（香港）有限公司（LinkAll Technology (HK) Limited）并且在蘇州，武漢，成都，重慶，西安等地設(shè)有聯(lián)絡(luò)點(diǎn)。公司在近年的持續(xù)發(fā)展過程中，年銷售額每年以50%的速度快速增長(zhǎng)，高層次人才已經(jīng)占到公司總?cè)藬?shù)的80%以上。經(jīng)過多年的穩(wěn)健發(fā)展，凌茂電子目前已成為美國(guó)AMETEK電磁兼容事業(yè)部（TESEQ,MILMEGA,IFI），美國(guó)Magna power，德國(guó)EA，德國(guó)Langer, 加拿大TESEO，德國(guó)SIBO，以色列Eldrotec，美國(guó)MCC，AE, CTC在中國(guó)地區(qū)一級(jí)代理商，并已與美國(guó)NI，ESDEMC，意大利AFJ，美國(guó)NHR，英國(guó)PEM,日本NEC，中國(guó)臺(tái)灣艾普斯等眾多品牌建立長(zhǎng)期穩(wěn)固的戰(zhàn)略合作關(guān)系。隨著公司優(yōu)秀人才的不斷引入，目前公司已由電磁兼容，功率電子領(lǐng)域擴(kuò)展成為汽車測(cè)試領(lǐng)域，軟件無線電模擬領(lǐng)域，半導(dǎo)體領(lǐng)域，電力測(cè)試領(lǐng)域的整體測(cè)試解決方案供應(yīng)商。同時(shí)公司立足于產(chǎn)品，著眼于客戶需求，以十余年的行業(yè)技術(shù)沉淀為基礎(chǔ)，依托眾多專家和技術(shù)學(xué)者為客戶提供完整的非標(biāo)測(cè)試解決方案。 2018年，由淩茂電子入股，聚合東南大學(xué)技術(shù)團(tuán)隊(duì)成立的蘇州菲利波電磁技術(shù)有限公司順利成為蘇州新區(qū)創(chuàng)業(yè)人才，公司將基于電磁領(lǐng)域進(jìn)行一系列前瞻性的研發(fā)。立足現(xiàn)在，展望未來，我司將堅(jiān)持與科技共發(fā)展，與客戶共攜手的原則，成為客戶最信任的伙伴！

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

ApplicationwithBS04DBScopeofdeliveryE1ExplodedviewdrawingE1ApplicationwithMSA02magneticfieldprobefromtheS2set　　E1抗干擾性開發(fā)系統(tǒng)是一套集成電路板開發(fā)過程中進(jìn)行抗干擾分析的EMC工具系統(tǒng)

〖德國(guó)Langer印刷電路板抗干擾系統(tǒng)〗產(chǎn)品信息

Application with BS 04 DB

Scope of delivery E1

Exploded view drawing E1

Application with MSA 02 magnetic field probe from the S2 set

　　E1抗干擾性開發(fā)系統(tǒng)是一套集成電路板開發(fā)過程中進(jìn)行抗干擾分析的EMC工具系統(tǒng)。采用E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)，能夠快速精準(zhǔn)地定位脈沖群干擾和靜電放電干擾的原因（薄弱點(diǎn)），使工程師開發(fā)人員能夠準(zhǔn)確針對(duì)薄弱點(diǎn)設(shè)計(jì)恰當(dāng)?shù)腅MC措施，并且使用E1評(píng)估EMC措施的效果。E1檢測(cè)設(shè)備的搭建空間小，適宜于在電子元件開發(fā)人員的工作場(chǎng)地使用。E1用戶手冊(cè)對(duì)EMC工作機(jī)制以及集成電路板去干擾的基本測(cè)量策略作出詳細(xì)描述。E1組套包括一個(gè)脈沖群干擾和靜電放電干擾發(fā)生器、九種不同的電場(chǎng)和磁場(chǎng)源、以及其他各類附件。

S21 光學(xué)傳感器
傳輸范圍	DC...10 Mbps
光纖接口	2.2 mm Ø
電源電壓	(3-5) V
電流輸入	10 mA
SGZ 21 脈沖群發(fā)生器 - 脈沖密度計(jì)數(shù)器
脈沖參數(shù)
上升時(shí)間	ca. 2 ns
波尾時(shí)間	ca. 10 ns
峰值	ca. 0...1500 V
光學(xué)輸入
光纖	2.2 mm
頻率	5 MHz
最小脈沖寬度	100 ns
電源電壓	12 V / 200 mA
尺寸 (L x W x H)	(154 x 100 x 62) mm

SGZ 21
脈沖群發(fā)生器 - 脈沖密度計(jì)數(shù)器

脈沖群發(fā)生器SGZ21產(chǎn)生零電勢(shì)脈沖狀干擾信號(hào)。它采用電氣隔離的對(duì)稱輸出。SGZ21的電流脈沖可以部分地與構(gòu)件、電纜、屏蔽或者接地系統(tǒng)耦合；可以注入模塊，或者間接通過場(chǎng)源耦合進(jìn)入受測(cè)設(shè)備。SGZ21內(nèi)置一個(gè)脈沖密度計(jì)數(shù)器，通過光學(xué)輸入端口測(cè)量模塊產(chǎn)生的信號(hào)。

S21
光學(xué)傳感器（10 Mbps）

S21 型傳感器是一個(gè)數(shù)字探頭，在猝發(fā)序列試驗(yàn)中，無反作用地傳遞受試設(shè)備發(fā)出的數(shù)字信號(hào)。使用時(shí)將其固定在受試設(shè)備的電路板上，由受試設(shè)備供電。數(shù)字信號(hào)在傳感器中被轉(zhuǎn)換為光學(xué)信號(hào)，并通過光纖傳遞至接收器或示波器。

BS 02

BS 04DB
磁場(chǎng)源探頭

BS 04DB產(chǎn)生毫米級(jí)范圍的磁場(chǎng)束特別適用于定位敏感的導(dǎo)線部分、元器件及其連接器件。測(cè)試時(shí)用場(chǎng)源端部射出的電場(chǎng)束來掃描受試設(shè)備的表面。

BS 05D
磁場(chǎng)源

BS 05D產(chǎn)生直徑大于3mm的磁場(chǎng)束。磁場(chǎng)線的方向與場(chǎng)源手柄成90°，因此特別適用于定位兩個(gè)集成電路板之間以及集成電路上很難靠近區(qū)域的薄弱點(diǎn)，例如元器件之間的區(qū)域。實(shí)際應(yīng)用時(shí)，一般應(yīng)該先用場(chǎng)源BS 02或BS 04DB對(duì)薄弱點(diǎn)進(jìn)行粗略定位，而后再使用BS 05D進(jìn)行精確定位。

BS 05DU
磁場(chǎng)源探頭

BS 05DU產(chǎn)生毫米級(jí)范圍的磁場(chǎng)束。它的工作原理如同耦合鉗，能夠?qū)⒏蓴_電流有選擇地耦合到單個(gè)導(dǎo)體、IC引腳、SMD原件以及細(xì)線（扁平帶狀線纜）。

ES 00
電場(chǎng)源探頭

ES 00場(chǎng)源可用于產(chǎn)生大面積（150cm²）區(qū)域狀或線狀的耦合電場(chǎng)。有時(shí)受試設(shè)備的電場(chǎng)敏感點(diǎn)的區(qū)域會(huì)很大，如LCD顯示器及總線系統(tǒng)，其敏感區(qū)域可能會(huì)達(dá)到10〜15厘米。使用如ES 00這樣大面積的電場(chǎng)場(chǎng)源，能夠測(cè)試出這樣的薄弱點(diǎn)。ES 00還可用于將干擾電流耦合給模塊。

ES 01
電場(chǎng)源探頭

該場(chǎng)源探頭適合于向5至10厘米范圍內(nèi)的區(qū)域狀或線狀薄弱點(diǎn)施加電場(chǎng)干擾，其范圍介于ES 02和ES 00之間。用ES 01還可以將干擾電流耦合給模塊。

ES 02
電場(chǎng)源探頭

該場(chǎng)源的面積較大，能夠大范圍地向機(jī)箱表面及內(nèi)部區(qū)域、連接件、帶導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的模塊以及集成電路（如總線系統(tǒng)，液晶顯示器）等施加耦合干擾電場(chǎng)。該場(chǎng)源的部位，可用于定位對(duì)電場(chǎng)敏感的小面積薄弱點(diǎn)（導(dǎo)線、晶振、上拉電阻、IC等）。

ES 05D
電場(chǎng)源探頭