產(chǎn)品用途:
CST-50沖擊試樣缺口投影儀是根據(jù)GB/T229-2007《金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口檢測要求而設(shè)計(jì)開發(fā)的,是用于檢測沖擊試樣缺口制作是否合格的重要設(shè)備。
利用光學(xué)投影的原理將被測的沖擊試樣U型和V型缺口與投影儀上的標(biāo)準(zhǔn)板圖進(jìn)行對比以確定被檢測的沖擊試樣加工是否合格,該設(shè)備操作簡便,檢查對比直觀、效率高,是沖擊試樣加工過程中的檢測設(shè)備。
主要技術(shù)指標(biāo):產(chǎn)品型號 | CST-50 |
放大倍數(shù) | 50× |
投影屏尺寸 | ф200mm |
工作臺位移 | 縱向±10mm,橫向±10mm,升降±12mm(無刻度) |
工作臺轉(zhuǎn)動范圍 | 0~360о(無刻度) |
光源 | 鹵鎢燈12V/100W |
電源 | 200V/50HZ/150W |
外形尺寸 | 515×224×603mm |
重量 | 約18kg |