- 產(chǎn)品名稱：日立S-3400N型掃描電子顯微鏡
- 儀器名稱：掃描電子顯微鏡
- 型號(hào)：Hitachi S-3400N
- 產(chǎn)地：日本
- 用途：成分分析
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Hitachi S—3400N型掃描電子顯微鏡，采用TMP分子泵真空系統(tǒng)，節(jié)省占地面積和電源功耗。主要用于對(duì)材料的微觀形貌、組織和成分進(jìn)行有效分析。 掃描電子顯微鏡詳細(xì)信息該設(shè)備具有新研制的電子光學(xué)系統(tǒng)和自動(dòng)化功能顯示系統(tǒng)有全屏顯示，無閃爍，高像素和實(shí)時(shí)圖像顯示等優(yōu)異的性能，它還可以實(shí)時(shí)信號(hào)混合并同時(shí)顯示兩個(gè)不同的檢測(cè)器觀測(cè)到的互不相同的樣品信息。 通過高畫質(zhì)提升掃描電鏡的分析能力和操作性，高靈敏度半導(dǎo)體背散射電子檢測(cè)器可以在快速掃描模式下運(yùn)行，這使得尋找大尺寸樣品中感興趣的區(qū)域更為簡(jiǎn)單和便利。 |
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日立掃描電子顯微鏡S--3400N型的特點(diǎn) |
1. S-3400N具有強(qiáng)大的自動(dòng)功能，包括自動(dòng)燈絲飽和、4偏壓、自動(dòng)槍對(duì)中、自動(dòng)束流設(shè)定、自動(dòng)合軸自動(dòng)聚焦和消像散、自動(dòng)亮度對(duì)比度等。 |
2. 在3kV低加速電壓時(shí)保證有10nm的分辨率。 |
3. 新型5分割高靈敏半導(dǎo)體式背散射探頭。 |
4. S-3400N II型具有五軸馬達(dá)臺(tái)，傾斜角度可達(dá)-20度~+90度，樣品zui高可達(dá)80mm。 |
5. 分析樣品倉(cāng)可以同時(shí)安裝EDX ， WDX 及EBSD。 |
6. 真空系統(tǒng)使用渦輪分子泵，潔凈、高效。 |
日立掃描電子顯微鏡S--3400N型的技術(shù)指標(biāo)：
項(xiàng)目 | 描述 |
SE分辨率 | 3.0nm (30kV)，高真空模式 / 10nm (3kV), 高真空模式 |
BSE分辨率 | 4.0nm (30kV)，低真空模式 |
| 加速電壓 | 0.3 ~ 30 kV |
| 低真空范圍 | 6 ~ 270 Pa |
| 樣品尺寸 | 直徑200mm |
| 樣品臺(tái) | I型 II型 |
| X | 0 ~ 80mm 0 ~ 100mm |
| Y | 0 ~ 40mm 0 ~ 50mm |
| Z | 5 ~ 35mm 5 ~ 65mm |
| R | 360o 360o |
| T | -20o~ +90o -20o ~ +90o |
| T | -20o~ +90o -20o ~ +90o |
| 樣品高度 | 35mm (WD=10mm) 80mm (WD=10mm) |
| 驅(qū)動(dòng)類型 | 手動(dòng) 五軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng) |
| 燈絲 | 預(yù)對(duì)中鎢燈絲 |
| 物鏡光欄 | 可移動(dòng)式4孔物鏡光欄 |
| 槍偏壓 | 固定比例偏壓、手動(dòng)偏壓和自動(dòng)4偏 |
| 檢測(cè)器 | 二次電子檢測(cè)器 高靈敏度半導(dǎo)體背散射電子檢測(cè)器 |
| 分析位置 | WD=10mm, TOA=35o |
| 控制 | 鼠標(biāo)、鍵盤，手動(dòng)旋鈕 |
| 自動(dòng)調(diào)校 | 自動(dòng)燈絲飽和、自動(dòng)4偏壓、自動(dòng)槍對(duì)中、自動(dòng)束流設(shè)定、自動(dòng)合軸、自動(dòng)聚焦 消像散、自動(dòng)亮度對(duì)比度 |
日立掃描電子顯微鏡S--3400N掃描圖像：
