產(chǎn)品介紹
XRD型偏光顯微熔點(diǎn)儀是專為材料學(xué)、生物化學(xué)、冶金學(xué)、有機(jī)化學(xué)、高分子及納米材料科學(xué)而研制。與光學(xué)或電子顯微鏡配合使用,在微觀上觀察記錄其融化、升華、結(jié)晶過程中的狀態(tài)和各種變化。并采用人性化設(shè)計(jì),自動(dòng)化程度高,操作簡單,技術(shù)*,性能優(yōu)秀,結(jié)構(gòu)新穎可靠。
技術(shù)規(guī)格
輸入電源 | 交流170-264V 50/60HZ |
熱臺(tái)加熱工作電源 | 直流24V 3A |
功耗 | 75W |
溫度范圍 | 室溫-400℃ |
熱臺(tái)外體溫度 | 當(dāng)熱體400℃,室溫25℃時(shí),外體溫度≤70℃ |
熱體載物重量 | 200克,加熱體大小Ф30 |
工作方式 | 連續(xù) |
測量精度 | 全范圍≤±0.3% |
系統(tǒng)波動(dòng)度 | ±1℃ |
升溫速度 | 室溫~100℃,≤80秒 |
可設(shè)置最慢升溫速度 | 室溫達(dá)到400℃,4小時(shí) |
可設(shè)置升溫速度范圍 | 占空比0~99% |
即刻恒溫響應(yīng)時(shí)間 | <10毫秒 |
工作臺(tái)外型尺寸 | 直徑110MM,厚度12MM |
工作臺(tái)加熱面尺寸 | 37MM |
重量 | 8KG |