CS3400LVV掃描電子顯微鏡
(Scaning Electron Microscope)
儀器介紹:
CS3400LV是一款專門為法庭科學(xué)實驗室設(shè)計制造的掃描電子顯微鏡,具有許多特殊的配置供選擇。
這是研究分析型掃描電鏡中的一款,擁有良好穩(wěn)定性和精度。此系列產(chǎn)品涵蓋了能與任何一款掃描電鏡兼容的大部分附件(包括50kv下的操作)。電源可選鎢燈絲,LaB6 或 FEG 。融合的設(shè)計和最入時的設(shè)計,我們確信擁有性能的此系列產(chǎn)品一定可以很好的與現(xiàn)公環(huán)境相適應(yīng),而且很容易操作。
簡便的工作臺設(shè)計,雙液晶顯示屏,超穩(wěn)定的電子光學(xué)系統(tǒng),設(shè)計精密的樣品室和樣品臺,所有這些都保證了CS3000系列能夠很好的服務(wù)當(dāng)今及未來社會的需求。這些顯微鏡具備許多自動化特征,的 CamScan Helios 軟件操作,用戶只需輕輕點擊鼠標(biāo)就可以完成對它的操作,與Delta Pad 手動操作單元配合使用,效果更佳。 裝備
技術(shù)參數(shù):
1.放大倍率: 3x to 600,000x
2.低真空模式: 1-300Pa (三種可選氣體)
3.優(yōu)中心樣品臺馬達(dá)驅(qū)動標(biāo)配: X=100mm, Y=150mm
4.樣品室內(nèi)部尺寸: 315mm x 415mm x 315mm
5.SEM高分辨顯示屏: 雙 18" 高分辨率 LC 顯示器
主要特點:
1.的電子光學(xué),在保證高分辨率的同時,具有的低倍性能(保證3倍下圖像無畸變)。
2.超大樣品室,最小一款內(nèi)部尺寸(寬413mm x 深313 mm x 高313mm)。
3.的附件接口排列設(shè)計,附件接口多于16個。
4.樣品室上設(shè)有觀察窗并可選裝光學(xué)顯微鏡。
5.可在樣品室的同一側(cè),同時安裝多個探測器。
6.高精度樣品臺, 單步移動精度≤0.2μm。
7.幾何位置可調(diào)整的二次電子探測器,改善圖像質(zhì)量。
8.安裝X射線波譜儀后,性能與指標(biāo)與電子探針相同,甚至優(yōu)于電子探針。
9.大視野大范圍的信息分析。
10.的 CamScan Helios 軟件操作。
11.與Delta Pad 手動操作單元配合使用,效果更佳。
12.的設(shè)計,更符合人體工程學(xué)。
13.安裝了自動水平傳感器的氣墊減震裝置。
價格:詢價 產(chǎn)地:英國