鎢燈絲掃描電子顯微鏡EVO MA 25/LS 25
詳細(xì)描述：
品牌：卡爾·蔡司
型號(hào)：EVO MA 25/LS 25
制造商：德國卡爾蔡司公司
經(jīng)銷商：石家莊飛泰有限公司
【品牌故事】
光學(xué)品牌，可見光及電子光學(xué)----德國蔡司公司始創(chuàng)于1846年。其電子光學(xué)前身為LEO（里奧）,更早叫Cambridge（劍橋），積掃描電鏡領(lǐng)域40多年及透射電鏡領(lǐng)域60年的經(jīng)驗(yàn)： CARL ZEISS以其前瞻的設(shè)計(jì)融合歐洲制造工藝造就了該品牌在光電子領(lǐng)域無可撼動(dòng)的地位。自成立至今，一直延續(xù)不斷創(chuàng)新的傳統(tǒng)，公司擁有電鏡制造*的專有技術(shù)，隨著離子束技術(shù)和基于電子束的分析技術(shù)的加入、為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場發(fā)射掃描電鏡、雙束顯微鏡(FIB and SEM)、透射電子顯微鏡等全系列解決方案的電鏡制造企業(yè)。其產(chǎn)品的高性能、高質(zhì)量、高可靠性和穩(wěn)定性已得到廣大用戶的信賴與認(rèn)可。 |
【總體描述】
EVO系列電鏡是高性能、功能強(qiáng)大的高分辨應(yīng)用型掃描電子顯微鏡。EVO MA 25用于材料領(lǐng)域,LS 25用于生命科學(xué)領(lǐng)域。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術(shù)級(jí)的物鏡設(shè)計(jì)，提供高低真空成像功能，可對(duì)各種材料表面作分析，并且具有業(yè)界*的X射線分析技術(shù)。革命性的Beamsleeve的設(shè)計(jì)，確保在低電壓條件下提供高分辨率的銳利圖像，同時(shí)還可以進(jìn)行準(zhǔn)確的能譜分析。樣品臺(tái)為五軸全自動(dòng)控制。標(biāo)準(zhǔn)的無油渦輪分子泵能夠滿足快速的樣品更換成像分析。 |
【技術(shù)參數(shù)】
分辨率：3.0nm@ 30KV(SE and W)
4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
加速電壓：0.2—30KV
放大倍數(shù)：5—1000000x
探針電流：0.5PA-5μA
X-射線分析工作距離：8.5mm 35度接收角
低真空壓力范圍：10—400Pa (LS25：10-3000Pa)
工作室：420mm(φ)×330mm(h)
5軸試樣載物臺(tái)：X=130mm Y=130mm Z=50mm T=-10°- 90°R=360° 大試樣高度：210mm，試樣大直徑：300mm
系統(tǒng)控制：基于Windows 7 的SmartSEM操作系統(tǒng) 【主要特點(diǎn)】
樣品高度可達(dá)210mm
大樣品重量5Kg
大的樣品直徑300mm
在可變壓力下操作
高亮度LaB6資源選擇
光線套選擇 |
【產(chǎn)品應(yīng)用】
掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。 |
