X'Pert PRO MRD and MRD XL | 成功的薄膜分析標準 | 針對薄膜的研究和生產(chǎn)控制——大到4英寸(MRD)或200mm(MRDXL)的全晶片測試 , 可用C-to-C晶片樣品架自動完成 |
把X射線衍射和散射技術(shù)從研究實驗室擴展到日常使用及生產(chǎn)控制可以通過一系列的技術(shù)和軟件開發(fā)來實現(xiàn),比如帕納科的超快探測器。
• 帶有直接光學位置靈敏(Direct Optical Position Sensing)的測角儀,是為連續(xù)多年的性能而設計的。
• 與CERN和其它技術(shù)的探測器物理研究單位共同開發(fā)的全固態(tài)X射線探測技術(shù)。
• PIXcel3D: 世界上的可以進行0維、1維和3維測量的面探測器。
• 一套完整的藝術(shù)級的分析軟件包,為了使用簡便而設計,有詳盡的文本和指南的支持。
• 遍布世界的XRD專家網(wǎng)絡,能夠回答您的任何應用問題。