離子研磨儀IM4000Ⅱ是樣品用于掃描電鏡觀察(SEM)和表面分析(EDX,EBSD等)的前處理工具。他能無應(yīng)力的去除樣品表面層,加工出光滑的鏡面,且對于含有硬度不同的復(fù)雜材料同樣簡單。
特點:
1. 兼容平面和截面兩種加工方式;
2. 加工效率高,加工速率>500μm/h;
3. 可加工樣品尺寸大:平面加工Ф50mm×H25mm,截面加工20(W)×12(D)×7(H)mm;
4. 支持多種擴展附件,例如真空轉(zhuǎn)移盒、冷凍樣品臺;
5. 操作便捷,采用觸摸屏控制,高精度光鏡頂位。