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X'Pert3 MRD 高分辨X射線衍射儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱上海德竹芯源科技有限公司
品牌
型號XPert3 MRD
所在地上海
廠商性質(zhì)其他
更新時間2023/10/3 10:53:05
訪問次數(shù)264

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公司介紹主營產(chǎn)品

上海德竹芯源科技有限公司是一家專注于功率器件、光電器件、射頻器件、量子器件、MEMS傳感器領(lǐng)域的設(shè)備銷售、系統(tǒng)集成、設(shè)備國產(chǎn)化的公司。主要為高校、研究所、中試量產(chǎn)線及晶圓FAB廠提供半導體工藝設(shè)備、檢測設(shè)備、封裝設(shè)備、測試設(shè)備。目前公司已成為國內(nèi)少數(shù)幾家專業(yè)提供半導體工藝、檢測、封裝、測試整體解決方案的企業(yè)。公司主要成員為復旦大學、上海微系統(tǒng)所等半導體相關(guān)專業(yè)博士，擁有一支經(jīng)驗豐富、技術(shù)過硬的團隊。能夠出色地完成售前售中、售后的服務(wù)。目前公司已與眾多國際半導體設(shè)備企業(yè)建立了良好的合作關(guān)系(如:EVG、SAWNATEC、SENTECH、PICOSUN、SYSKEY、 Mavemn Panalyrical、PHL-CHINA、TEMPRESS,ROHDE&SCHWARZ、MPI等)，致力于根據(jù)用戶的科研方向和量產(chǎn)的器件類別提供相應(yīng)的全套設(shè)備選型和工藝整體解決方案。

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無線電綜合測試儀

產(chǎn)品簡介在線詢價

高分辨率X射線衍射儀，主要用途為測量 Si, Ge, SiC, GaN, InGaN, AlGaN, GaAs, InP, AlN, GaSb 等化合半導體材料的單晶和外延層材料的結(jié)晶完整性，外延層及相應(yīng)半導體器件結(jié)構(gòu)的組分、厚度、弛豫度等參數(shù)的測定，外延結(jié)構(gòu)的晶格失配及應(yīng)變狀態(tài)分析，X-Y map均勻性分析，雙軸晶和三軸晶X射線衍射，對稱和非對稱掃描，Out-of-plane 和 In-plan......

X'Pert3 MRD 高分辨X射線衍射儀產(chǎn)品信息

設(shè)備功能

● 倒易空間掃描(RSM) – 一分鐘完成自動掃描及自動分析

● 高分辨衍射(HRXRD) – W/2T，2T/W，2T……掃描

● 搖擺曲線(Rocking Curve) – W 掃描

● 反射率(XRR) – 材料密度，厚度，粗糙度(Option)

● 晶格參數(shù)(Lattice parameter)，晶向(Orientation)及晶面鑒定(Reflection plane)

● 切角(Off-Cut)及平辺方向(Flat)鑒定

● 晶體缺陷鑒定(Defect)

● 曲率半徑鑒定(Curvature)

● 應(yīng)力(Strain)及弛裕度(relaxation)鑒定

● 晶格失配率鑒定(Mismatch)