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掃描電子顯微鏡 SU3800/SU3900

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱上海維翰光電科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2023/9/26 8:19:39
  • 訪問次數(shù)223
產(chǎn)品標簽:

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上海維翰光電科技有限公司是一家擁有技術(shù)、經(jīng)營和管理人才隊伍,著重發(fā)展光學、精密機械、計算機相結(jié)合的(光、機、電一體化)光學儀器的開發(fā)、生產(chǎn)和銷售,具備較強的市場開拓能力、光機電領(lǐng)域技術(shù)與產(chǎn)品的成套開發(fā)制造能力公司主要經(jīng)營自主研發(fā)產(chǎn)品有:工具顯微鏡,測量顯微鏡,生物顯微鏡,體視顯微鏡,金相顯微鏡,偏光顯微鏡,熒光顯微鏡,相襯顯微鏡,讀數(shù)顯微鏡,檢測顯微鏡,電子視頻顯微鏡,干涉顯微鏡,數(shù)碼顯微鏡、測量投影儀、 光學投影儀、工業(yè)投影儀、影像測量儀、顯微成像系統(tǒng)、光學計量儀器、物理光學儀器(偏光熔點儀,分光光度計,阿貝折射儀)、綜合光學測量儀器(干涉顯微鏡,激光平面干涉儀,透鏡中心儀,平面平晶,標準線紋尺,測角儀,自準直儀,平行光管,內(nèi)調(diào)焦望遠鏡 )金相設(shè)備(拋光機、鑲嵌機、切割機、磨拋機).硬 度 計(洛氏,布氏,維氏,里氏),顯微硬度計,塑料硬度計,橡膠硬度計,鉗式硬度計。等光學儀器及顯微測量軟件和光學儀器配件公司同時代理國外品牌儀器并長期以來與其有著良好的合作關(guān)系,是NIKON生物顯微鏡以及OLYMPUS工業(yè)顯微鏡特約合作伙伴,公司有專業(yè)的銷售及售后服務(wù)團隊,能為用戶提供完善的解決案和系統(tǒng)的培訓。廣泛應(yīng)用于農(nóng)牧、輕工、機械、電子、冶金、化工等行業(yè);衛(wèi)生、教育、國防等部門及各大專院校、科研單位
產(chǎn)品說明: ①SU3900標配多ng較大樣品倉,可應(yīng)對大型樣品的觀察 ■ 樣品臺可搭載大/較重樣品,通過更換樣品提示,可防止由于與樣品的接觸而損壞設(shè)備或樣品,選配樣品交換倉,可在...
掃描電子顯微鏡 SU3800/SU3900 產(chǎn)品信息
①SU3900標配多ng較大樣品倉,可應(yīng)對大型樣品的觀察
■ 樣品臺可搭載大/較重樣品,通過更換樣品提示,可防止由于與樣品的接觸而損壞設(shè)備或樣品,選配樣品交換倉,可在主樣品倉保持真空的狀態(tài)下快速更換樣品,大大提高了工作效率,具備樣品臺移動限制解除功能,提高了自由度*,紅外CCD探測器,提高了樣品臺移動的安q性。
■ 支持全視野移動。SEM MAP支持較大樣品的全視野觀察,與GUI聯(lián)合,可配備樣品倉室導航相機, 覆蓋整個可觀察區(qū)域,支持360度旋轉(zhuǎn)。
通過更換樣品提示,可防止由于與樣品的接觸而損壞設(shè)備或樣品
■ GUI上顯示更換樣品的操作步驟??梢员苊庖蛉藶榈恼`操作而導致樣品污染或損壞。即使是難以檢測高度的凹凸不平的樣品或者是大樣品,也能夠輕松更換。



樣品交換倉*
選配樣品交換倉,可在主樣品倉保持真空的狀態(tài)下快速更換樣品,大大提高了工作效率


具備樣品臺移動限制解除功能,提高了自由度*
■ SU3800 / SU3900配置了樣品臺自由模式,開放了樣品臺移動的自由度。操作人員可自行判斷,自由移動樣品臺。
※選擇樣品臺自由模式時,請同時選配紅外CCD探測器。
紅外CCD探測器*,提高了樣品臺移動的安q性
■ 紅外CCD探測器是用于監(jiān)控樣品倉內(nèi)部的裝置。通過使用紅外線攝像機,可以在觀察SEM圖像的同時監(jiān)視樣■ 品倉內(nèi)部情況。為了獲得更詳細的位置,放大CCD圖像,并且移動觀察位置。
 
*配件
支持全視野移動,SEM MAP支持較大樣品的全視野觀察
與GUI聯(lián)合,可配備樣品倉室導航相機

與GUI聯(lián)合的SEM MAP,正是因為采用了樣品倉室導航相機,才得以實現(xiàn)廣角相機導航功能*。在SEM MAP上制定觀察目
標位置,可以順利地移動到任意制定位置上。使用大視野相機導航系統(tǒng)拍攝的圖像或外部圖像,通過自由放大或縮小圖像,可以將大視野的彩色圖像切換到高
倍率的SEM圖像。
*配件
 


覆蓋整個可觀察區(qū)域
相機導航系統(tǒng)通過圖像拼接功能可以實現(xiàn)大視野的SEM MAP觀察。觀察區(qū)域為直徑130mm(SU3800)/ 直徑200mm(SU3900),并且可以與樣品臺R一起聯(lián)動,移動到大型樣品的*大觀察區(qū)域。



支持360度旋轉(zhuǎn)
SEM MAP操作界面可直觀的顯示樣品與探測器的位置關(guān)系,因此在觀察高度差大的樣品時,可根據(jù)需求旋轉(zhuǎn)樣品臺或電子束來獲得*佳的觀察分析位置,避免陰影效應(yīng)造成的影響。



②隨著各種自動化功能的強化,操作性能得到了進一步優(yōu)化。
■ 一個鼠標就能夠輕松操作的簡約GUI
■ 搭載了簡約UI,簡單操作,如同觸屏般直觀。
■ 從移動樣品臺到樣品觀察,輕輕點擊鼠標即可實現(xiàn)
■ 也可觸屏操作
■ 主窗口為1280x960像素的大窗口
■ 可以切換顯示模式,并且同時顯示/拍攝兩種不同的信號
■各種自動化功能
自動調(diào)整算法經(jīng)改良后,等待時間減少至以往的1/3以下(※S-3700N比例)
樣品安裝完成后,通過自動光路調(diào)整及各種自動功能調(diào)整圖像,隨后可立即獲得樣品圖像。高度自動化功能采用*新設(shè)計的演算程序,在執(zhí)行圖像自動調(diào)整功能時,等待時間縮短到以往的1/ 3以下。



采用了新的算法,提高了自動聚焦精度
全*升級的自動聚焦調(diào)整功能,即使是以往難以調(diào)整的光滑樣品,也能夠輕松得到良好的圖像。



搭載Intelligent Filament Technology(IFT)
■ 自動監(jiān)視燈絲的狀態(tài),自動控制使其一直處于*佳性能的狀態(tài)。
■ 搭載顯示燈絲更換時間的顯示屏。
■ 通過該功能,使得原來難以對應(yīng)的長時間連續(xù)觀察以及數(shù)據(jù)分析等大范圍分析均可以安心實現(xiàn)。


Multi Zigzag*,可實現(xiàn)多區(qū)域的大視野觀察
Multi Zigzag可以自動獲取連續(xù)的視野??梢栽诓煌囊曇爸信臄z多張高倍率圖像,并使用Viewer功能拼接拍攝的圖像,創(chuàng)建大視野圖像。
*配件

Report Creator,可利用獲得的數(shù)據(jù)批量生成數(shù)據(jù)報告
在Report Creator中,可以將SEM圖像,EDS數(shù)據(jù)和CCD相機圖像等采集的圖像統(tǒng)一整合,生成報告。創(chuàng)建的報告可保存為Microsoft Office®格式。保存的文件可通過Microsoft Office®進行編輯。
③可提供滿足測試需求的應(yīng)用解決方案
■ 可滿足多種觀察需求的探測器
■ 搭載高靈敏度UVD*,支持CL觀察
■ SU3800 / SU3900配備了高靈敏度低真空探測器UVD。除了樣品表面的凹凸圖像之外,還可以通過檢測電子束照射樣品而產(chǎn)生的陰極熒光,來獲取CL信息。



高靈敏度半導體式背散射電子探測器,切換成分/凹凸等多種圖像
通過采用4分割+1單元的設(shè)計,對每個單元進行計算,無需傾斜樣品,即可獲得成分圖像、3D圖像以及4方向凹凸圖像。由于探測器的設(shè)計十分精巧,且靈敏度高,實現(xiàn)了高分辨率和高信噪比。





■配備了多gn較大樣品倉,可以搭載多種配件
SU3900標配多gn較大樣品倉,可應(yīng)對大型樣品的觀察。


■SEM/EDS一體化功能*
SU3800/SU3900全*研發(fā)的SEM/EDS一體化功能,通過SEM操作界面即可完成測試位置確定、條件設(shè)置、樣品分析以及生成報告等一系列操作。通過SEM的*面控制,可以提高測試效率,減輕了操作人員的負擔。



■三維顯示測量軟件 Hitachi Map 3D*
Hitachi Map 3D可對SU3800/SU3900的5分割背散射電子探測器當中的4個不同方向的SEM信號進行演算分析,生成三維圖像。支持2點間高度、體積和簡易表面粗糙度(面粗糙度、線粗糙度)測量。可一*性接收四個不同方向的信號,因此,無需傾斜樣品臺或合成圖像。



■支持圖像測量軟件Image pro
SU3800 / SU3900搭載了IPI,可以將SEM圖像傳輸?shù)接蒻eiguoMedia Cybernetics公司開發(fā)的圖像處理軟件Image Pro。只需單擊一下,即可將數(shù)據(jù)從SEM傳輸?shù)綀D像測量軟件。



礦物的觀察分析案列
顯示了鋯石晶體在相同視野下的觀察結(jié)果。在BSE圖像中很難看清鉻濃度的緩和偏差。但是,在CL圖像中可以確認到暗 色區(qū)域是對應(yīng)于錯濃度較高的區(qū)域。



技術(shù)參數(shù)


技術(shù)參數(shù)
ITEM SU3800 SU3900
二級電子分解能 3.0nm(加速電壓30kV、WD=5mm、高真空模式)
15.0nm(加速電壓1kV、WD=5mm、高真空模式)
背散射電子分解能 4.0nm(加速電壓30kV、WD=5mm、低真空模式)
倍率 ×5~×300,000(照片倍率*1)
×7~×800,000(實際顯示倍率*2)
加速電壓 0.3kV~30kV
低真空度設(shè)定 6~650 Pa
圖像位移 ±50µm(WD=10mm)
*大樣品尺寸 200mm直徑 300mm直徑
樣品臺 X 0~100mm 0~150mm
Y 0~50mm 0~150mm
Z 5~65mm 5~85mm
R 360°連續(xù)
T -20°~+90°
*大可觀察范圍 130mm直徑(R并用) 200mm直徑(R并用)
*大可觀察高度 80mm(WD=10mm) 130mm(WD=10mm)
電機驅(qū)動 5軸電機驅(qū)動
電子光學系統(tǒng) 電子槍 中心操控式鎢絲發(fā)射
物像鏡頭光圈 4孔可動光圈
檢測系統(tǒng) 二級電子檢測器、高靈敏半導體背散射電子檢測器
EDX分析WD WD=10mm(T.O.A=35°)
圖像顯示 自動光軸調(diào)整功能 自動光束調(diào)整(AFS→ABA→AFC→ABCC)
自動光軸調(diào)整(實時級別對齊)
自動調(diào)整光束亮度
自動圖像調(diào)整功能 自動亮度和對比度控制(ABCC)
自動對焦控制(AFC)
自動標記和焦點功能(ASF)
自動燈絲飽和度調(diào)整(AFS)
自動光束對準(ABA)
自動啟動(HV-ON→ABCC→AFC)
操作輔助功能 光機旋轉(zhuǎn)、動態(tài)聚焦、圖像質(zhì)量改s功能、數(shù)據(jù)輸入(點對點測量、角度測量、文本)、預設(shè)放大、樣品臺位置導航功能(SEM MAP)、光束標記功能
配件 ■硬件:軌跡球、操縱桿、操作面板、壓縮機、高靈敏度操作低空探測器(UVD)、紅外CCD探測器、攝像機導航系統(tǒng)■軟件:SEM數(shù)據(jù)管理器外部通訊接口、3D捕獲、裝置臺移動限制解除功能、EDS集成
配件(外部裝置) 能量散射X射線分析儀(EDS)、波長色散X射線分析儀(WDS)、
各種外部功能臺(加熱臺、冷卻臺、牽引臺)
 
* 1.放大倍率為127 mm x 95 mm(4x5照片尺寸)的顯示尺寸。
 
* 2.放大倍率為509.8 mm x 286.7 mm(1,920 x 1,080像素)的顯示尺寸。
15168338725
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